UI-X6220是一個專用于MEMS芯片的數字功能測試板卡，可用于多功能測試，量產測試等 每張板卡有32個通道，每個通道有PMU功能，通過多板卡級聯，能擴展到最多512個通道，可以進行DC，AC相關參數測試 每個數字通道有獨立的可編程功能， 可以用作drive hi, drive lo, sense hi, sense lo和load value，另外，每個通道提供了高精度測量單元(PMU)，以便用戶能進行DUT(device under test)的測試，包括參數測試，并行測試等 UI-X6220是基于PXI架構的板卡，具有多功能測試能力，提供了I2C/SPI功能，counter計數器功能，每張板卡能提供16site的I2C測試，8site的SPI測試，通過級聯，可以并行測試高達128site，同時，UI-X6220也有pattern memory的功能，每通道32M ，能進行10M的動態數字功能測試
--- 產品參數 ---
- 時鐘速率 10MHz（最大）
- 通道數 32pins/card
- 電壓量程 -1V到正負10V
- 驅動電流 正負32mA DC（最大）
- 電壓精度 16bits
- 輸出阻抗 50（典型值）
--- 數據手冊 ---
--- 產品詳情 ---
為你推薦
-
UI-7110 六位半數字多用表2022-06-02 09:35
產品型號：UI-7110 直流電壓：100mV~1000V 直流電流：100μA -10A 交流電壓：100mV~750V (3Hz-300kHz) 交流電流：100μA~10A(3Hz-10kHz) 電阻：10Ω -100MΩ -
源測量單元板卡（4通道SMU功能板卡）2022-06-01 15:32
產品型號：UI-X6330 輸出通道數(DACs：4 上電后繼電器狀態：全通道關閉 工作溫度：0 °C to +55 °C 存儲溫度：-20 °C to +70 °C 尺寸：3U -
源測量單元板卡（4通道SMU功能板卡）2022-05-31 15:23
產品型號：UI-X6320 輸出通道數(DACs：4 上電后繼電器狀態：全通道關閉 工作溫度：0 °C to +55 °C 存儲溫度：-20 °C to +70 °C 尺寸：3U -
100M動態數字功能板卡（Timing，PPMU）2022-05-25 15:12
產品型號：UI-X6920 型號：X6920 時鐘速率：5kHz ~100 MHz 通道數：32 pins (通過級聯最高可達512 pins) Pattern內存：64M/每通道 Sequence內存：64M/每通道 -
MEMS芯片測試板卡2022-02-21 15:14
產品型號：UI-X6220 時針速率：10MHz（最大） 通道數：32pins?card 驅動電流：正負32mA DC（最大） 電壓精度：16bits 電壓量程：-1V到+10V -
100M動態數字功能板卡（Timing，PPMU）2022-02-21 11:29
產品型號：UI-X6920 時針速率：5KHz~100MHz 通道數：32pins Pattern內存：64M/每通道 Sequence：64M/每通道 并行測試能力：Any pin to any site -
MEMS芯片測試系統2021-12-13 17:15
產品型號：UI300系列MEMS傳感器測試機 Pin Channe：32~224pin (支持多板卡擴展) Test Rate：10MHz PMU：PMU per channel/16bit DPS：-1V~+10V per site; 512mA MAX Rang：2UA,8UA,32UA,128UA,512UA,2MA,8 -
MEMS芯片測試板卡2021-12-08 14:49
產品型號：UI-X6220 時鐘速率：10MHz（最大） 通道數：32pins/card 電壓量程：-1V到正負10V 驅動電流：正負32mA DC（最大） 電壓精度：16bits -
BMS測試系統2021-12-02 10:58
產品型號：UI120C系列 集成電池管理系統自動測試系統 單體電壓：0.1-5V 電壓輸出精度：正負1mV 步進精度：<0.5mA 隔離電壓：正負750V 安全保護：短路保護，極性反轉保護，過熱保護，多通道互鎖結構 -
BMS測試產品2021-12-02 10:47
產品型號：UI100E 系列 鋰電池模擬模塊 電池仿真通道：16 單體電壓：1.3V-5V 電壓輸出精度：正負1mV 電壓回讀精度：正負1mV 電壓輸出步進：0.15mV
-
非常詳細的BUCK電路 PCB layout建議2025-01-17 10:03
在DC-DC芯片的應用設計中，PCB布板是否合理對于芯片能否表現出其最優性能有著至關重要的影響。不合理的PCB布板會造成芯片性能變差如線性度下降（包括輸入線性度以及輸出線性度）、帶載能力下降、工作不穩定、EMI輻射增加、輸出噪聲增加等，更嚴重的可能會直接造成芯片損壞。一般DC-DC芯片的使用手冊中都會有其對應的PCB布板設計要求以及布板示意圖，本次我們就以同194瀏覽量 -
拋磚引玉，教你學習各種總線技術2025-01-10 10:02
-
芯片的失效性分析與應對方法2024-12-20 10:02
-
【漢通達科技】引領未來測試技術，ATX中國區獨家呈現高端夾具與設備2024-12-13 10:01
-
北京漢通達科技有限公司正式簽約德國ATX公司，成為中國獨家代理商2024-12-07 01:04
-
IC芯片老化測試以及方案詳解2024-11-23 01:02
-
MEMS傳感器轉臺測試設備2021-12-13 15:30
-
上傳時間：2022-05-31 16:26
3次下載 -
上傳時間：2021-12-09 09:30
46次下載