動(dòng)態(tài)
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發(fā)布了文章 2025-01-09 11:01
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發(fā)布了文章 2025-01-08 10:59
聚焦離子束技術(shù)：核心知識(shí)與應(yīng)用指南
精細(xì)調(diào)控離子流在微納米尺度的加工技術(shù)中，實(shí)現(xiàn)離子流的亞微米乃至納米級(jí)聚焦是一項(xiàng)至關(guān)重要的工藝。借助于精密的偏轉(zhuǎn)和加速機(jī)制，離子流能夠進(jìn)行精確的掃描運(yùn)動(dòng)，完成微納米級(jí)圖形的檢測(cè)與分析，以及無需掩模的微納米結(jié)構(gòu)加工。液態(tài)金屬鎵因其卓越的物理特性，常被選作理想的離子源材料。技術(shù)應(yīng)用的多樣性聚焦離子束技術(shù)在多個(gè)領(lǐng)域展現(xiàn)出其廣泛的應(yīng)用潛力，如修復(fù)掩模板、調(diào)整電路、分析 -
發(fā)布了文章 2025-01-08 10:57
氬離子切拋技術(shù)在簡(jiǎn)化樣品制備流程中的應(yīng)用
在材料科學(xué)和工程領(lǐng)域，樣品的制備對(duì)于后續(xù)的分析和測(cè)試至關(guān)重要。傳統(tǒng)的制樣方法，如機(jī)械拋光和研磨，雖然在一定程度上可以滿足要求，但往往存在耗時(shí)長(zhǎng)、操作復(fù)雜、容易損傷樣品表面等問題。隨著技術(shù)的發(fā)展，氬離子切拋技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生，為材料制樣提供了一種更為高效、精細(xì)的選擇。傳統(tǒng)制樣方法的局限性1.EBSD樣品制備的挑戰(zhàn)電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)在材料科學(xué)中具有廣泛的應(yīng) -
發(fā)布了文章 2025-01-08 10:55
灼熱絲試驗(yàn)測(cè)試步驟詳解
什么是灼熱絲測(cè)試？灼熱絲測(cè)試是一種評(píng)估電子電器產(chǎn)品在過熱情況下起火危險(xiǎn)性的重要實(shí)驗(yàn)。灼熱絲測(cè)試的目的與設(shè)備灼熱絲測(cè)試的目的是為了確保電子電器產(chǎn)品在設(shè)計(jì)和制造過程中考慮到了熱安全，防止因過熱引發(fā)火災(zāi)。測(cè)試設(shè)備包括一個(gè)固定規(guī)格的電阻絲環(huán)，即灼熱絲，它通過大電流加熱至試驗(yàn)規(guī)定的高溫，然后以規(guī)定的壓力大灼燒樣品一段時(shí)間，以此來模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用中可能遇到的熱沖擊。灼 -
發(fā)布了文章 2025-01-08 10:54
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發(fā)布了文章 2025-01-07 11:20
錫須生長(zhǎng)現(xiàn)象
在電子制造領(lǐng)域，錫須是一種常見的物理現(xiàn)象，表現(xiàn)為在錫質(zhì)表面自發(fā)生長(zhǎng)的細(xì)長(zhǎng)晶體。這些晶體類似于晶須，能在多種金屬表面形成，但以錫、鎘、鋅等金屬最為常見。錫須的形成對(duì)那些選擇錫作為電路連接材料的制造商來說，是一個(gè)需要特別關(guān)注的問題。錫須生長(zhǎng)的根源探究1.應(yīng)力因素的探討錫須問題通常與電鍍層內(nèi)部的壓縮應(yīng)力有關(guān)。這種應(yīng)力可能由多種因素引起，例如電鍍過程中的化學(xué)反應(yīng)、鍍 -
發(fā)布了文章 2025-01-07 11:19
聚焦離子束（FIB）在加工硅材料的應(yīng)用
在材料分析中的關(guān)鍵作用在材料科學(xué)領(lǐng)域，聚焦離子束（FIB）技術(shù)已經(jīng)成為一種重要的工具，尤其在制備透射電子顯微鏡（TEM）樣品時(shí)顯示出其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。金鑒實(shí)驗(yàn)室作為行業(yè)領(lǐng)先的檢測(cè)機(jī)構(gòu)，能夠幫助研究人員準(zhǔn)確評(píng)估FIB加工對(duì)材料的影響，確保樣品的質(zhì)量和分析的可靠性。本文將深入探討FIB技術(shù)在TEM樣品制備中的應(yīng)用，并分析由此產(chǎn)生的人工缺陷問題。FIB技術(shù)的卓越性能F -
發(fā)布了文章 2025-01-07 11:17
電子背散射衍射晶體學(xué)織構(gòu)分析與數(shù)據(jù)處理
晶體的取向，即晶體坐標(biāo)系（CCS）相對(duì)于樣品坐標(biāo)系（SCS）的定位，對(duì)于理解材料的物理和化學(xué)性質(zhì)具有決定性的作用。晶體取向不僅影響材料的力學(xué)性能，如強(qiáng)度、韌性、塑性等，還對(duì)電學(xué)、熱學(xué)、光學(xué)等性能產(chǎn)生深遠(yuǎn)的影響。例如，在半導(dǎo)體材料中，晶體取向決定了載流子的遷移率和復(fù)合效率，從而影響器件的性能；在金屬材料中，晶體取向影響金屬的塑性變形機(jī)制和疲勞壽命等。1.旋轉(zhuǎn)矩231瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-01-07 11:13
電氣安全測(cè)試項(xiàng)目詳解
安全檢測(cè)認(rèn)證的重要性在電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)與制造過程中，安全性是不可忽視的核心要素。安全檢測(cè)認(rèn)證是確保電子產(chǎn)品在進(jìn)入市場(chǎng)前滿足安全標(biāo)準(zhǔn)的關(guān)鍵步驟。這些認(rèn)證過程涵蓋了模擬用戶可能的使用情況，包括正常使用和異常使用，以評(píng)估產(chǎn)品可能帶來的風(fēng)險(xiǎn)，如電擊、火災(zāi)和機(jī)械傷害，并在產(chǎn)品出廠前通過設(shè)計(jì)預(yù)防這些風(fēng)險(xiǎn)。國(guó)際安規(guī)體系概覽IEC：國(guó)際電工委員會(huì)，負(fù)責(zé)制定國(guó)際電工標(biāo)準(zhǔn)。UL：128瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-01-06 12:29
