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薄膜電容器的失效分析

2018年08月07日 17:45 未知 作者:周碧俊 用戶評論(0

薄膜電容器是屬于一種使用頻率算是比較高的電器,它主要是被廣泛的使用在模擬信號的交連以及其他電源處。薄膜電容器它具有非常多優(yōu)良的特點,是一種相當(dāng)優(yōu)秀的電容器產(chǎn)品。

電容器失效

電容器擊穿、開路、引線斷裂、絕緣了破裂等使電容器完全失去工作能力的失效屬致命性失效,其余一些失效會使電容不能滿足使用要求,并逐漸向致命失效過渡;

電容器在工作應(yīng)力與環(huán)境應(yīng)力綜合作用下,工作一段時間后,會分別或同時產(chǎn)生某些失效模式。同一失效模式有多種失效機(jī)理,同一失效機(jī)理又可產(chǎn)生多種失效模式。失效模式與失效機(jī)理之間的關(guān)系不是一一對應(yīng)的。

薄膜電容失效分析

薄膜電容器用于二極管吸收電路,電容額定壓630VDC, 電路中正常尖峰小于200V,滿足降額要求。失效電容器外觀良好,無損壞痕跡用LCR長測試,失效樣品均無容量,引腳間呈開路狀態(tài)解開電容器塑料封裝,引線以及引線與噴金層焊接良好,噴金層與芯子連接部位有發(fā)黑痕跡;展開電容器芯子金屬化膜,部分失效電容器金屬化膜光亮平整完好,另。 部分金屬化膜已經(jīng)發(fā)熱變形。初步判斷為電路dv/dt過人導(dǎo)致電容器失效。測試電路中電壓波形,發(fā)現(xiàn)dv/dt 為3000V/u s,但選用的薄膜電容器dv/dt最大值只有40V/μ s。

為驗證失效模式,取批新電容器,初測正常,上機(jī)老化后,電容器80-90%

失效,排除廠家來料質(zhì)量問題,確定該電容器不適合在該電路中使用。

解決方案

所有單板(包括半成品、成品以及發(fā)貨產(chǎn)品》此位置使用的該電容器全部更換為可規(guī)格dv/dt較人的雙面金屬化聚丙烯山容器后問題解決。

對于薄膜電容,選取吸收電容的參數(shù)除電壓和容量外,最主要的指標(biāo)還有dv/dt和紋波電流(電壓)。特別是dv/dt這個參數(shù),即使是容量和電壓相同,系列不同、引腳間距不同的電容,其額定值可從幾V/us到幾KV/us。如果僅從電壓和容量指標(biāo)選擇電容,電容I作一段時間后就會容值衰減甚全消失。另外由于功率器件開關(guān)頻率比較高(可達(dá)上百KHz),高頻下較小的電壓波動就會導(dǎo)致較人的紋波電流(I=WCU),過人的紋波電流將導(dǎo)致心容溫開高、參數(shù)劣化或燒毀。

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( 發(fā)表人:鄧家樂 )

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