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從容面對(duì)嚴(yán)苛環(huán)境 TI推出高溫非易失性閃存器SM28VLT32-HT

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2023-08-06 09:36:10505

Arm Ethos-U NPU應(yīng)用程序開(kāi)發(fā)概述

動(dòng)態(tài)存儲(chǔ)運(yùn)行時(shí)數(shù)據(jù)在神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的推理過(guò)程中。 ?AXI接口M1用于允許更低帶寬和更高帶寬的內(nèi)存事務(wù) 延遲因此,AXI M1接口可以連接到較慢或較少突發(fā)的存儲(chǔ)例如閃存或DRAM。內(nèi)存用于運(yùn)行時(shí)的
2023-08-02 06:37:01

嚴(yán)苛環(huán)境下工業(yè)電腦能否使用

在構(gòu)成現(xiàn)代工業(yè)制造環(huán)境的眾多元素中,工業(yè)電腦占據(jù)了重要的一席之地。這些專(zhuān)業(yè)級(jí)的計(jì)算設(shè)備尤其出色的地方在于,它們能夠在各種嚴(yán)苛環(huán)境中,如工廠、礦區(qū)、油田或者是在地理環(huán)境惡劣的遠(yuǎn)程地點(diǎn),保持無(wú)間斷運(yùn)行,從而保證工業(yè)生產(chǎn)的連續(xù)性和效率。
2023-08-01 14:34:43199

高溫環(huán)境對(duì)連接器有哪些影響

CNLINKO凌科電氣連接器知識(shí)分享炎炎酷暑,烈烈高溫,對(duì)人是一種煎熬和考驗(yàn)。對(duì)處于戶外等高溫環(huán)境下的連接器何嘗也不是一種考驗(yàn)?zāi)兀?b class="flag-6" style="color: red">嚴(yán)苛的高溫環(huán)境對(duì)連接器的性能會(huì)造成沖擊,如果連接器不具備耐高溫的性能
2023-07-31 22:53:21388

高溫對(duì)LED貼膜屏的影響及應(yīng)對(duì)措施

LED貼膜屏作為一種常見(jiàn)的顯示技術(shù),被廣泛應(yīng)用于室內(nèi)和室外場(chǎng)所。然而,在夏季或高溫環(huán)境下,LED貼膜屏所受到的高溫和熱量可能導(dǎo)致一系列問(wèn)題,影響我們的使用。因此,了解高溫對(duì)LED貼膜屏的影響,并采取
2023-07-25 07:49:15256

TDK針對(duì)高溫要求推出耐用型MKP X2電容器

? 針對(duì)高溫應(yīng)用要求,TDK推出了新的愛(ài)普科斯(EPCOS)安規(guī)電容系列B3292#P/Q系列。相比于最高工作溫度為110 °C的常規(guī)安規(guī)電容,新系列電容的最大允許工作溫度高達(dá)125
2023-07-21 17:34:31372

MXD1210是一款控制

MXD1210RAM控制是一款超低功耗CMOS電路,可將標(biāo)準(zhǔn)()CMOS RAM轉(zhuǎn)換為非易失性存儲(chǔ)。它還會(huì)持續(xù)監(jiān)控電源,以在RAM的電源處于邊際(超出容限)條件時(shí)提供RAM寫(xiě)保護(hù)
2023-07-21 15:01:52

ADUC831是一款芯片

兼容12個(gè)內(nèi)核時(shí)鐘周期。片內(nèi)集成有62 KBFlash/EE程序存儲(chǔ)。片內(nèi)同時(shí)集成4 kBFlash/EE數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、256字節(jié)RAM和2 kB擴(kuò)
2023-07-14 17:15:06

DS28EA00U+T&R是一款傳感

DS28EA00是具有9位(0.5°C)至12位(1/16°C)分辨率和用戶可編程(NV)上、下觸發(fā)點(diǎn)報(bào)警功能的數(shù)字溫度計(jì)。每個(gè)DS28EA00都具工廠編程的唯一64位序列號(hào)。通信時(shí)只需一根
2023-07-14 11:14:14

DS28E22是一款認(rèn)證

(SHA-256)的質(zhì)詢—響應(yīng)安全認(rèn)證功能,支持高度安全的雙向認(rèn)證。2Kb用戶可編程EPROM為應(yīng)用數(shù)據(jù)提供存儲(chǔ),附加安全存儲(chǔ)保存SHA-256操作密鑰和用戶存
2023-07-13 17:18:29

DS28EL15Q+T是一款認(rèn)證

(SHA-256)的高度加密、雙向、質(zhì)詢-響應(yīng)安全認(rèn)證功能。512位用戶可編程EEPROM陣列為應(yīng)用數(shù)據(jù)提供存儲(chǔ),附加的保護(hù)存儲(chǔ)器用于存儲(chǔ)SHA-256算法的
2023-07-13 17:14:07

DS28EL22Q+T是一款認(rèn)證

(SHA-256)的高度加密、雙向、質(zhì)詢-響應(yīng)安全認(rèn)證功能。2Kb用戶可編程EEPROM陣列為應(yīng)用數(shù)據(jù)提供存儲(chǔ),附加的安全存儲(chǔ)儲(chǔ)存用于SHA-256算法的讀保護(hù)
2023-07-13 17:12:05

DS28E80Q+T是一款存儲(chǔ)

DS28E80為用戶可編程存儲(chǔ)芯片。與浮柵存儲(chǔ)單元相比,DS28E80采用了耐γ輻射的存儲(chǔ)單元技術(shù)。DS28E80具有248字節(jié)用戶存儲(chǔ),分成8字節(jié)大小的存儲(chǔ)塊,每個(gè)存儲(chǔ)塊可具有寫(xiě)保護(hù)
2023-07-13 17:01:58

DS28E80是一款存儲(chǔ)

DS28E80為用戶可編程存儲(chǔ)芯片。與浮柵存儲(chǔ)單元相比,DS28E80采用了耐γ輻射的存儲(chǔ)單元技術(shù)。DS28E80具有248字節(jié)用戶存儲(chǔ),分成8字節(jié)大小的存儲(chǔ)塊,每個(gè)存儲(chǔ)塊可具有寫(xiě)保護(hù)
2023-07-13 11:31:16

為什么業(yè)內(nèi)對(duì)汽車(chē)芯片要求嚴(yán)苛

為什么業(yè)內(nèi)對(duì)汽車(chē)芯片要求嚴(yán)苛?一個(gè)根本出發(fā)點(diǎn):汽車(chē)芯片需在低至-40°高達(dá)125°的環(huán)境溫度里,在長(zhǎng)達(dá)15年的設(shè)計(jì)壽命里,正常運(yùn)行不出故障。一旦出現(xiàn)問(wèn)題,危及人身安全和財(cái)產(chǎn)安全。
2023-07-11 16:26:58223

電子變壓器高溫老化試驗(yàn)

電子變壓器是電力系統(tǒng)中的重要組件之一,其作用是將電能從一個(gè)電路傳輸?shù)搅硪粋€(gè)電路,同時(shí)還能改變電壓的大小。由于變壓器在使用過(guò)程中可能會(huì)受到環(huán)境溫度的影響,所以需要對(duì)其進(jìn)行高溫老化試驗(yàn)。高溫老化試驗(yàn)
2023-07-10 16:28:12311

電子變壓器高溫老化試驗(yàn)

電子變壓器是電力系統(tǒng)中的重要組件之一,其作用是將電能從一個(gè)電路傳輸?shù)搅硪粋€(gè)電路,同時(shí)還能改變電壓的大小。由于變壓器在使用過(guò)程中可能會(huì)受到環(huán)境溫度的影響,所以需要對(duì)其進(jìn)行高溫老化試驗(yàn)。 高溫老化試驗(yàn)
2023-07-10 09:44:26266

計(jì)算機(jī)服務(wù)的產(chǎn)品環(huán)境可靠和電磁兼容試驗(yàn)GB/T9813

的抗擾度試驗(yàn) 4、高低溫濕熱環(huán)境試 4.1低溫工作試驗(yàn):10℃,通電工作2小時(shí); 4.2低溫貯存試驗(yàn):-40℃,貯存16小時(shí),恢復(fù)2小時(shí),通電測(cè)試; 4.3高溫工作試驗(yàn):35℃,通電工作2小時(shí); 4.4
2023-06-15 09:45:58

軍用電子元器件二篩,進(jìn)口元器件可靠篩選試驗(yàn)

軍用電子元器件二篩,二次篩選試驗(yàn),進(jìn)口元器件可靠篩選試驗(yàn) 按性質(zhì)分類(lèi): (1)檢查篩選:顯微鏡檢查、紅外線破壞檢查、X射線破壞檢查。 (2)密封篩選:液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射示蹤檢漏
2023-06-08 09:17:22

無(wú)法將超過(guò)8K的數(shù)據(jù)寫(xiě)入64k閃存扇區(qū)怎么辦?

任何人都可以幫助我面對(duì)像 lpc4337 閃存中的 sector13 一樣無(wú)法將超過(guò) 8K 的數(shù)據(jù)寫(xiě)入 64k 的問(wèn)題嗎?即使是 64K 容量的扇區(qū)在閃存寫(xiě)入期間也只允許 8k 數(shù)據(jù)。 如果我提供
2023-06-08 06:39:37

如何使用ESP8266并想計(jì)算所有可用內(nèi)存的校驗(yàn)和或哈希值?

,我試圖了解使用 ESP8266 可以使用哪些內(nèi)存。當(dāng)我做對(duì)時(shí),有可用的 RAM 和閃存。它們之間的區(qū)別在于,F(xiàn)lash 存儲(chǔ)不是的。所以我嘗試訪問(wèn)和讀取閃存,最后得到以下草圖: 代碼:全選
2023-06-07 06:43:39

HONEYWELL霍尼韋爾傳感器SM351RT、SM451R、SM353RT、SM453R全極霍爾效應(yīng)傳感器芯片元器件

HONEYWELL霍尼韋爾傳感器SM351RT、SM451R、SM353RT、SM453R全極霍爾效應(yīng)傳感器芯片元器件
2023-06-05 16:26:27565

內(nèi)存有寫(xiě)入限制嗎?

我們正在構(gòu)建一個(gè)設(shè)備來(lái)測(cè)量消耗。電路 ACS712 讀取那一刻的消耗量,所以,我需要做一個(gè)每秒累加的方法。問(wèn)題:內(nèi)存有寫(xiě)入限制,所以我需要使用內(nèi)存。寫(xiě)入存儲(chǔ)是否有一些限制?我們的想法是每秒讀取一次 ACS712 并寫(xiě)入存儲(chǔ),每 10 分鐘寫(xiě)入一次非易失性存儲(chǔ)
2023-05-30 08:48:06

德國(guó)海曼傳感HTS A10 F8-14-HT高溫規(guī)格參數(shù)

深圳市龍享科技有限公司是德國(guó)海曼代理,歡迎查料詢價(jià),提供技術(shù)支持,樣品。德國(guó)海曼傳感HTS A10 F8-14-HT高溫規(guī)格參數(shù)海曼傳感公司的新型熱電堆紅外傳感由新型CMOS兼容傳感芯片
2023-05-26 16:45:32

存儲(chǔ)介質(zhì)的類(lèi)型有哪些?

一種便攜式存儲(chǔ)設(shè)備,當(dāng)插入計(jì)算機(jī)時(shí),被解析為內(nèi)置硬盤(pán)設(shè)備。這也是一種閃存。與MMC和SD卡一樣,USB閃存驅(qū)動(dòng)是一種更受歡迎的可移動(dòng)存儲(chǔ)形式。 5、RAM RAM是一個(gè)內(nèi)存選項(xiàng)。一旦設(shè)備
2023-05-18 14:13:37

HOLTEK新推出HT32F61630/HT32F61641鋰電池保護(hù)MCU

HT32F61630/HT32F61641具備32 KB / 64 KB Flash ROM、SRAM存儲(chǔ)容量為2 KB / 8 KB,最高運(yùn)行速度為16 MHz / 20 MHz,I/O方面具有22個(gè)多功能引腳并提供豐富外圍資源。
2023-05-17 11:27:04289

從SD閃存進(jìn)行OTA的方法?

。這使得 OTA 非常棘手! 我需要一個(gè)開(kāi)銷(xiāo)比 Arduino 少得多的環(huán)境? 或者從 SD 閃存進(jìn)行 OTA 的方法? 或者修改 eboot 以在 OTA 期間將代碼從 SD 復(fù)制到閃存? 或者其他一些聰明的解決方案?
2023-05-17 08:29:00

電渦流傳感器用于高溫環(huán)境發(fā)動(dòng)機(jī)、渦輪葉片等金屬微位移檢測(cè)

英國(guó)真尚有高溫電渦流傳感器HL系列探頭使用了專(zhuān)門(mén)的材料和制造技術(shù),高溫版本探頭可在+25℃到+649℃的環(huán)境溫度下穩(wěn)定測(cè)量,分辨率及重復(fù)性均可高達(dá)0.76um。
2023-05-16 16:40:03983

NLTL-6796SM 倍頻

   Marki Microwave 的 NLTL-6796SM 是一款倍頻,輸出頻率為 0.5 至 50 GHz,輸出功率為 13 至 23 dBm。標(biāo)簽:表面貼裝
2023-05-15 14:17:45

NLTL-6273SM 倍頻

Marki Microwave 的 NLTL-6273SM 是一款倍頻,輸出頻率為 0.7 至 24 GHz,輸出功率為 16 至 26 dBm。標(biāo)簽:表面貼裝。NLTL-6273SM 的更多細(xì)節(jié)
2023-05-15 14:06:30

imx28無(wú)法從NAND啟動(dòng)并進(jìn)入U(xiǎn)SB恢復(fù)模式怎么解決?

- 我的任務(wù)是找出根本原因并解決基于 imx28 的定制設(shè)計(jì)板中的問(wèn)題。 - imx28 無(wú)法從 NAND 啟動(dòng)并進(jìn)入 USB 恢復(fù)模式。 - 將 NAND 閃存更改為不同的 NAND 閃存
2023-04-27 06:50:47

德國(guó)海曼heimann耐高溫紅外熱電堆溫度傳感器推薦

德國(guó)heimann sensor海曼?HTS A10 F8-14-HT是一款耐高溫紅外熱電堆溫度傳感器,儲(chǔ)存溫度-40~185℃溫度,工作溫度-20~180℃。海曼全型號(hào)可以訂貨,交期快,供貨穩(wěn)定!
2023-04-21 17:23:19980

TI助力連接物聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用實(shí)現(xiàn)更穩(wěn)健、更經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的Wi-Fi?技術(shù)

德州儀器 (TI) 今日推出全新 SimpleLink 系列 Wi-Fi 6 配套集成電路 (IC),可幫助設(shè)計(jì)人員以實(shí)惠的價(jià)格為在高達(dá) 105oC 的高密度或高溫環(huán)境中運(yùn)行的應(yīng)用實(shí)現(xiàn)高度可靠、安全高效的 Wi-Fi 連接。
2023-04-21 10:48:37796

高溫型射頻導(dǎo)納料位開(kāi)關(guān)的原理、特點(diǎn)和應(yīng)用

高溫型射頻導(dǎo)納料位開(kāi)關(guān)是射頻導(dǎo)納料位開(kāi)關(guān)的一種,顧名思義,其主要用于高溫環(huán)境下料位的測(cè)量。那么,超高溫型射頻導(dǎo)納料位開(kāi)關(guān)的原理、特點(diǎn)和應(yīng)用是怎樣的呢?
2023-04-19 16:53:25606

手機(jī)需要經(jīng)過(guò)高溫試驗(yàn)嗎?

隨著移動(dòng)互聯(lián)網(wǎng)的發(fā)展和智能手機(jī)的普及,對(duì)于手機(jī)的環(huán)境可靠性試驗(yàn)愈加重視。環(huán)境可靠性試驗(yàn)涉及多個(gè)方面,主要包括以下幾個(gè)方面:   首先,手機(jī)需要經(jīng)過(guò)高溫試驗(yàn),以測(cè)試手機(jī)在高溫環(huán)境下的表現(xiàn)。高溫試驗(yàn)
2023-04-17 15:53:16391

佰維推出工業(yè)級(jí)寬溫Micro SD(TF卡,從容應(yīng)對(duì)各種復(fù)雜環(huán)境挑戰(zhàn)

針對(duì)行業(yè)級(jí)安防監(jiān)控、車(chē)載媒體、工業(yè)自動(dòng)化應(yīng)用等,佰維推出工業(yè)級(jí)寬溫 Micro SD(TF)卡,從容應(yīng)對(duì)各種復(fù)雜環(huán)境挑戰(zhàn)。
2023-04-14 17:26:32522

IMX6UL如何從安全存儲(chǔ) (SNVS) 讀取或?qū)懭耄?/a>

創(chuàng)新全系列車(chē)規(guī)級(jí)存儲(chǔ)產(chǎn)品累計(jì)出貨1億顆

中,車(chē)載電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)的復(fù)雜度顯著提升,對(duì)于存儲(chǔ)產(chǎn)品而言,大容量、實(shí)時(shí)響應(yīng)、高可靠和安全必不可少,兆創(chuàng)新車(chē)規(guī)級(jí)GD25/55 SPI NOR Flash和GD5F SPINAND Flash具有豐富
2023-04-13 15:18:46

求助,如何使用密鑰生成CMAC?

我想用密鑰獲取CMAC值(僅驗(yàn)證甚至可以)。我正在使用修改后的“csec_boot_protection_s32k148”項(xiàng)目。初始化 CSEc 模塊后,我使用給定的指令加載密鑰 ROM
2023-04-10 06:34:32

MRAM實(shí)現(xiàn)對(duì)車(chē)載MCU中嵌入式存儲(chǔ)的取代

具有,即使切斷電源,信息也不會(huì)丟失,而且它和DRAM一樣可隨機(jī)存取。表1存儲(chǔ)的技術(shù)規(guī)格比較在性能方面,自旋注入MRAM的讀取1擦寫(xiě)時(shí)間都很短,均在2ns~20ns之間。它不需要閃存所必需
2023-04-07 16:41:05

非易失性存儲(chǔ)FM33256B-G特征介紹

可用于斷電(NMI)中斷或其他目的的通用比較。該器件的工作電壓為2.7V至3.6V。FM33256B-G提供256Kb的FRAM存儲(chǔ)容量。快速的寫(xiě)入速度和無(wú)限的耐用使該存儲(chǔ)可以用作額外
2023-04-07 16:23:11

汽車(chē)材料怎么做高溫老化試驗(yàn)

汽車(chē)材料是汽車(chē)制造中不可或缺的重要組成部分,為保證汽車(chē)性能和質(zhì)量,材料的高溫老化試驗(yàn)尤為重要。汽車(chē)材料的高溫老化試驗(yàn)通常采用模擬車(chē)輛運(yùn)行中耐高溫環(huán)境的方式來(lái)進(jìn)行,以模擬材料在汽車(chē)使用過(guò)程中的實(shí)際受力
2023-04-07 11:26:09332

半導(dǎo)體器件在高溫環(huán)境下的可靠性

半導(dǎo)體元器件在高溫環(huán)境下的可靠性是制造商和用戶十分關(guān)注的問(wèn)題。高溫試驗(yàn)是一種常用的測(cè)試方法,通過(guò)模擬實(shí)際使用中的高溫環(huán)境,可以評(píng)估元器件在高溫下的性能和可靠性。高溫試驗(yàn)需要仔細(xì)設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)方案,包括選擇
2023-04-07 10:21:03765

633W-60VLT

LEAD TEST MINIHK-RA BANAPLG VLT
2023-03-30 17:33:43

高溫老化房技術(shù)特點(diǎn)分析

高溫老化房用于評(píng)估確定電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化和產(chǎn)品表面高溫老化的環(huán)境條件下的儲(chǔ)存適應(yīng)性和使用的儲(chǔ)存適應(yīng)性,作為環(huán)境試驗(yàn)中的主要檢測(cè)設(shè)備,老化房憑借其高精度、高穩(wěn)定性、多功能性,以及便于升級(jí)
2023-03-23 10:36:00550

如何通過(guò)與隨機(jī)持久處理寄存進(jìn)行異或來(lái)保護(hù)瞬態(tài)對(duì)稱密鑰?

我目前正在嘗試防止臨時(shí)對(duì)稱密鑰在重新啟動(dòng)后保留在內(nèi)存中。我的巧妙計(jì)劃是使用 i.MX RT1064 處理寄存(保證在重啟時(shí)歸零)對(duì)它們進(jìn)行異或,我在重啟時(shí)將其設(shè)置為隨機(jī)數(shù)。(這與寄存
2023-03-23 07:07:21

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