資料介紹
在半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)中,采樣率更快的 ADC(模數(shù)轉(zhuǎn)換器)可提供多種優(yōu)勢(shì),包括: 1. 更低的噪聲:由于 ADC 可以采集更多的信號(hào)樣本,并且 ADC 可以對(duì)信號(hào)求平均值以降低噪聲,因此更快的 采樣率可以降低信號(hào)中的噪聲。 2. 更好地檢測(cè)瞬態(tài)事件:信號(hào)中的瞬態(tài)事件(例如尖峰或毛刺)可能會(huì)持續(xù)很短的時(shí)間,并且會(huì)被速度較慢的 ADC 錯(cuò)過(guò)。借助寬帶寬和采樣率更快的 ADC,可以更準(zhǔn)確地捕獲這些事件,從而更好地了解信號(hào)的特性。 3. 更快的測(cè)試速度:采樣率更快的 ADC 還可以實(shí)現(xiàn)更快的測(cè)試速度,因?yàn)?ADC 可以在單位時(shí)間內(nèi)采集和處理 更多數(shù)據(jù)。 4. 與高速器件兼容:更快且更復(fù)雜的器件會(huì)生成具有更高帶寬的信號(hào)。為了準(zhǔn)確捕獲和測(cè)試這些信號(hào),需要使用 采樣率更快的 ADC。 5. 靈活測(cè)試多個(gè)信號(hào):使用采樣率更快的 ADC,可以一次測(cè)試多個(gè)信號(hào),因?yàn)?ADC 可以快速在信號(hào)之間切換以 采集數(shù)據(jù)。
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