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中圖儀器

深圳市中圖儀器股份有限公司是一家高新技術(shù)企業(yè),致力于全尺寸鏈精密測(cè)量?jī)x器及設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售。

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接觸式輪廓掃描儀

型號(hào): SJ5780
品牌: 中圖儀器(中圖儀器)

--- 產(chǎn)品參數(shù) ---

  • 注釋 更多詳細(xì)產(chǎn)品信息,請(qǐng)聯(lián)系我們獲取

--- 產(chǎn)品詳情 ---

中圖儀器SJ5780接觸式輪廓掃描儀是一款大量程、高精度的主動(dòng)掃描式綜合輪廓測(cè)量?jī)x、高精度智能輪廓粗糙度掃描儀。儀器X軸、Z軸均為獨(dú)立運(yùn)動(dòng)系統(tǒng),采用兩軸聯(lián)動(dòng)運(yùn)動(dòng)控制算法,實(shí)現(xiàn)X、Z雙軸聯(lián)動(dòng)掃描,測(cè)量時(shí)測(cè)針在工件表面做仿形運(yùn)動(dòng)掃描(主動(dòng)掃描),既保持了恒測(cè)力,又保證了大的陡坡通過(guò)能力,工件調(diào)平操作簡(jiǎn)單,同時(shí)避免了崩針、掛針等問(wèn)題。可全量程大范圍連續(xù)掃描,擁有長(zhǎng)達(dá)數(shù)百毫米的持續(xù)爬坡能力,適合大范圍陡坡表面測(cè)量,大工件無(wú)需翻轉(zhuǎn)、傾斜調(diào)整,就可實(shí)現(xiàn)測(cè)量。

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SJ5780接觸式輪廓掃描儀

 

SJ5780接觸式輪廓掃描儀可用于長(zhǎng)軸類、筒類、曲面零件、絲杠、螺紋等高精度部件的內(nèi)外徑尺寸、內(nèi)外輪廓形貌參數(shù)測(cè)量,非常適合航空、軍工、船舶、高鐵、新能源汽車、醫(yī)療等行業(yè)。該產(chǎn)品支持量程定制,適用于各行業(yè)領(lǐng)域的實(shí)驗(yàn)室或工作現(xiàn)場(chǎng)使用。

 

技術(shù)參數(shù)

儀器電源:220V/380V±10%,50Hz±2Hz,三相交流,要求有漏電和斷電保護(hù)

使用環(huán)境:無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)、震動(dòng)、腐蝕氣體,溫度:18-22℃,濕度:≤85%RH

儀器尺寸(長(zhǎng)×寬×高): 1200×500×980(mm)

儀器總重量: 約180kg

技術(shù)參數(shù)表:

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產(chǎn)品功能

1.雙向輪廓掃描測(cè)量功能

通過(guò)測(cè)針與被測(cè)表面的滑移進(jìn)行接觸測(cè)量,能對(duì)物體的輪廓、二維尺寸進(jìn)行測(cè)量;

對(duì)測(cè)量得到的零件輪廓形狀數(shù)據(jù),用擬合的方法得到圓弧、角度、傾斜、距離等,從而可以分析半徑、直徑、溝槽深度、角度、傾斜度、凸起、水平距離、垂直距離、臺(tái)階等形狀參數(shù),包含有基本要素計(jì)算、要素間計(jì)算、單元計(jì)算、坐標(biāo)控制、公差標(biāo)注等;

可手動(dòng)選擇圖形局部元素,精確測(cè)量計(jì)算坐標(biāo)、點(diǎn)線距離、圓弧中心、圓弧頂點(diǎn)等,直接評(píng)價(jià)圓度、直線度、平行度等形位公差;

軟件支持的單側(cè)輪廓的掃描及輪廓分析。

2.螺紋掃描功能

1).全自動(dòng)檢測(cè)圓柱螺紋、圓錐螺紋、圓柱/圓錐內(nèi)外徑等各種工件內(nèi)、外尺寸的綜合參數(shù),如作用中徑、單一中徑、基本中徑、大徑、小徑、螺距、牙型角、牙型半角、牙側(cè)直線度、螺紋升角、錐度等參數(shù);

2).可檢測(cè)梯形螺紋、偏梯形螺紋、鋸齒螺紋等大坡度螺紋,也可檢測(cè)普通的螺紋工件;

3).可檢測(cè)單頭、多頭螺紋的綜合參數(shù);

4).檢測(cè)各種類GB(國(guó)標(biāo))、ISO(國(guó)際)、BS(英制)、ANSI(美標(biāo))、DIN(德標(biāo))、JIS(日標(biāo))等量規(guī)。國(guó)內(nèi)螺紋標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù),滿足國(guó)內(nèi)客戶需求;

5).滿足多種螺紋規(guī)程、標(biāo)準(zhǔn),根據(jù)規(guī)程、標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)進(jìn)行檢測(cè)結(jié)果判定;

6).一次測(cè)量即可自動(dòng)記錄和顯示任意位置螺紋數(shù)據(jù)及各種螺紋參數(shù),自動(dòng)生成被測(cè)螺紋的曲線圖、相關(guān)參數(shù)數(shù)據(jù)和分析圖表。

螺紋測(cè)量.jpg
螺紋測(cè)量

 

3.粗糙度測(cè)量功能

1).采用分辨率超高的納米光柵進(jìn)行表面質(zhì)量評(píng)定,音圈電機(jī)控制微測(cè)力測(cè)量掃描;

2).快捷計(jì)算分析;一次測(cè)量即可評(píng)價(jià)輪廓和粗糙度參數(shù);測(cè)量參數(shù)按照標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)計(jì)算;可以按照不同標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行粗糙度參數(shù)評(píng)價(jià);可以在輪廓圖上的斜線或者圓特征上進(jìn)行粗糙度評(píng)價(jià);測(cè)量報(bào)告可以圖形化或者數(shù)字化顯示。

4.軟件功能

1).界面友好,純中文操作頁(yè)面,更符合中國(guó)用戶操作習(xí)慣。

2).測(cè)量記錄采用集中式數(shù)據(jù)庫(kù)管理,測(cè)量結(jié)果自動(dòng)保存,文件名稱以測(cè)量編號(hào)量規(guī)規(guī)格量規(guī)類型的型式存儲(chǔ),起到見(jiàn)名知義的效果。可按被測(cè)螺紋類型、生產(chǎn)單位、出廠編號(hào)、檢測(cè)員、送樣單位、計(jì)量編號(hào)、檢測(cè)日期和有效日期等查詢和管理測(cè)量記錄。

3).可從數(shù)據(jù)庫(kù)中選定多條記錄成批打印測(cè)量記錄或者證書。

4).可將測(cè)量數(shù)據(jù)輸出到Word、Excel、AutoCAD(選配)文檔,輸出Word、PDF多種格式報(bào)表,并支持自定義報(bào)表,定制記錄報(bào)表和證書的格式,特別適合國(guó)內(nèi)計(jì)量機(jī)構(gòu)對(duì)報(bào)表方面的要求。 

5).可把檢測(cè)結(jié)果數(shù)據(jù)導(dǎo)進(jìn)Auto CAD、Excel或者直接利用軟件自身的輪廓分析功能進(jìn)行二次分析,適合于進(jìn)行一些輪廓參數(shù)深入研究,操作實(shí)用性較強(qiáng)。

6).可根據(jù)客戶需求定制標(biāo)準(zhǔn)(選配)。

7).可加載系統(tǒng)定義之外的特殊螺紋的分析算法,特別適合特殊螺紋的分析計(jì)算,方便定制開發(fā)。

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    激光干涉儀檢測(cè)機(jī)床的方法(以線性檢測(cè)為例)1.進(jìn)行線性測(cè)量的一般步驟(1)安裝設(shè)置激光干涉儀(2)將激光束與被測(cè)量的軸校準(zhǔn)(3)啟動(dòng)測(cè)量軟件,并輸入相關(guān)參數(shù)(如材料膨脹系數(shù))。(4)在機(jī)床上輸入測(cè)量程序,啟動(dòng)干涉儀測(cè)量,并記錄數(shù)據(jù)。(5)用測(cè)量軟件分析測(cè)量數(shù)據(jù),生產(chǎn)補(bǔ)償文件。線性測(cè)量應(yīng)用2.光束快速準(zhǔn)直步驟(1)沿著運(yùn)動(dòng)軸將反射鏡與干涉鏡分開。(2)移動(dòng)機(jī)床工作臺(tái),當(dāng)光束離開光靶外圓時(shí)停止移動(dòng),垂
  • 白光干涉儀(光學(xué)輪廓儀):揭秘測(cè)量坑的形貌的利器!2023-10-26 10:47

    SuperViewW1白光干涉儀結(jié)合數(shù)字圖像處理技術(shù)和三維重建算法來(lái)提高測(cè)量的精度和效率,揭秘并測(cè)量坑的形貌,為科學(xué)研究和工程實(shí)踐提供更有力的支持。
  • 納米級(jí)測(cè)量?jī)x器:窺探微觀世界的利器2023-10-11 13:49

    納米級(jí)測(cè)量?jī)x器在納米科技研究領(lǐng)域中扮演著重要的角色。通過(guò)共聚焦顯微鏡、光學(xué)輪廓儀等的運(yùn)用,科研人員們能夠更加深入地了解納米世界的奧秘。
  • 微納共聚焦顯微鏡:檢測(cè)摩擦學(xué)研究的重難點(diǎn)2023-09-22 09:13

    針對(duì)磨損區(qū)域較大、坡度也較為陡峭的生物摩擦和流體摩擦領(lǐng)域,采用中圖VT6000系列共聚焦顯微鏡更加匹配,其遠(yuǎn)勝于光學(xué)3D表面輪廓儀的大角度測(cè)量能力和超景深觀察功能,能夠輕松勝任磨損較為嚴(yán)重的表面形貌檢測(cè),從而幫助研究人員更加精準(zhǔn)的掌握磨損量評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)。
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  • 先進(jìn)封裝廠關(guān)于Bump尺寸的管控2023-09-06 14:26

    BumpMetrologysystem—BOKI_1000在半導(dǎo)體行業(yè)中,Bump、RDL、TSV、Wafer合稱先進(jìn)封裝的四要素,其中Bump起著界面互聯(lián)和應(yīng)力緩沖的作用。Bump是一種金屬凸點(diǎn),從倒裝焊FlipChip出現(xiàn)就開始普遍應(yīng)用,Bump的形狀有多種,常見(jiàn)的為球狀和柱狀,也有塊狀等其他形狀,下圖所示為各種類型的Bump。Bump起著界面之間的電氣互聯(lián)和應(yīng)力緩沖的作用,從Bondwire
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