本文探討了目前LED分布光度計的發展狀況，主要是對基于成像光度學，采用CCD或是數碼相機作為分布光度測量手段的儀器進行了分析和研究。此研究根據LED為半面發光的特點，采用拋物面反射器的設置，對LED的發光進行聚光反射，LED方向可通過步進馬達進行一定角度的轉換，從而得到不同角度位置的光斑，使用CCD或是數碼相機進行測試。得到LED反射的發光光斑后，通過合適的圖像處理，可根據光斑得到LED的配光曲線。

1引言

燈具分布光度計是一種大型的精密光學測試設備，是燈具分布光度測量中必備的重要設備。傳統的分布光度計主要為機械式結構，通過機械控制探頭旋轉測量整個三維空問的燈具光強分布。目前在發展中的這類傳統分布光度計主要有旋轉反光鏡式分布光度計。運動反光鏡式分布光度計和旋轉燈具式分布光度計等幾種結構形式℃IEl27一1997對LED的光學和電學測試進行了要求，也是采用傳統光度測量方法進行LED測試的依據。近年來，隨著CCD成像技術的發展與成熟，同時由于其可視化效果好，簡易方便，人們開始逐漸尋求采用成像技術來進行光度測量，目前已有可用于基于成像技術的亮度計，輔助傳統類型的亮度計。而基于成像光度測量燈具光強分布的研究由于更加復雜，精度難以提高，目前仍處于研究階段。燈具的分布光度測量是燈具設計和照明設計中質量控制的重要環節，尤其是隨著LED等新光源和新興照明技術的發展，對燈具分布光度測量提出了新的挑戰。因此我們根據目前發展狀況及需求，進行基于成像光度法的LED光強分布測試的分布光度計研制。

目前國內燈具市場產品質量良莠不齊，每年有大量新款燈具涌入市場。其實際照明效果的評估往往得不到有效評估。而目前國內測量燈具光強分布采用機械式分布光度計，體積大，價格比較昂貴，只有較大照明公司或是研究所才會購置。而國內一些生產光度測量儀器廠家，其產品性能較好，有些方面能達到國際水平，也為國內各廠家所采用。國際上光度測量儀器廠家也非常多，而產品也很成熟，如德國。美國等一些國家的公司。

2005年，成像量度測量設備ILMD（ImagingLuminance Measurcment Device）就已經引人CIE，并且成立了一個新的TC2-59，研究ILMD的特性。

采用成像技術測量光環境的儀器，已經用于一些科研實驗以及實用中，基于成像光度原理的測量儀器，具有很大的發展空間。本文研究的LED成像光度計系統，是一種新型的光度測量系統，可以簡單快速地采集燈具光強分布數據，得出配光曲線。

2測試原理

本文中使用成像光度學方法，解決非成像光度學問題，通過圖像處理技術，結合光度學和視覺科學，采集。計算并快速獲得燈具配光曲線。圖l為成像光度計結構示意圖。其結構主要包括拋物面反光鏡。步進馬達，偏振片或柔光鏡，光學鏡頭組，CCD.CMOS或數碼相機等。測量時，將待測的LED光源通過支架放置在曲面反光碗的焦點處。LED光源是180℃范圍發光，放置時，發光面的方向是朝向曲面反光碗的。LED發出的光經曲面反光碗反射形成光柱，直接照射至CCD.CMOS或數碼相機的光學鏡頭里，經CCD.CMOS或數碼相機成像設備內置程序自動測試判定，判定如果入射光光強過大（沒定閾值判定），則啟動馬達將偏振片或柔光片加在光路上，并用馬達對偏振片角度進行調節，如果光強值在允許范圍內，則在測量光路中，不需要加上偏振片或柔光片。如果采用CCD或是CMOS，需要加上y（A）濾光鏡校正，采用數碼相機，則主要是對數碼相機相應的像素進行校正。入射至CCD.CMOS或數碼相機的光柱在感光器件上形成光斑，CCD.CMOS或數碼相機內部的設定程序會用事先標定好的公式對多幅光斑圖像進行測算，推算出LED發出的光在空間分布的色度。亮度數據，LED也通過步進馬達控制，可以完成±5℃和±10℃偏轉，從而得到不同偏轉角度的光斑，從而可以對LED中心光強的分布進行修正。

圖1 結構示意圖

這些數據經視覺參量修正后將被送往設備內固有的軟件進行格式轉換，最后以IES格式輸出LED的配光曲線。圖2為成像采集系統工作原理流程圖。首先，對成像采集系統進行定標，然后采集LED發射光斑圖像，通過判斷是否超曝光范圍，從而系統判定是否增加偏振片或柔光鏡，等比例減弱光斑強度。成像采集系統采集到LED發射光斑后，通過軟件計算修正，得到LED配光曲線。

圖2 系統工作原理圖

3 LED成像光度計結構

LED成像光度計結構如圖l所示，主要部分如圖3所示。光度計主要包括拋物型反射器。LED光源放置支架。半透明光斑接收屏和CCD成像設備。拋物面反射器開口和焦點位于同一平面，接收屏的外徑和拋物面反射器的開口外徑相同。拋物線的開口大小根據測量LED燈具改變而定，要保證被測光源相對于測試設備，體積很小，可視為點光源。半透明光斑接收屏的位置距離也根據測試光強大小進行調整。通過這樣測量，光強將會有兩次衰減，一次為拋物面反射，一次為接收屏透射。

圖3 LED成像光度計平面結構