通常留到項(xiàng)目結(jié)束的設(shè)計(jì)活動(dòng)之一是驗(yàn)證產(chǎn)品是否滿(mǎn)足電磁兼容性 （EMC） 排放要求。但是，雖然將 EMC 合規(guī)性測(cè)試推遲到項(xiàng)目結(jié)束是一種常見(jiàn)做法，但它可能會(huì)導(dǎo)致重大的意外成本和項(xiàng)目延遲。這些可以通過(guò)在設(shè)計(jì)過(guò)程的早期考慮 EMC 合規(guī)性來(lái)避免。

通常，EMC 測(cè)試推遲到項(xiàng)目結(jié)束的原因是時(shí)間、成本和工作量限制。對(duì)合規(guī)性測(cè)試的不熟悉也有助于人們對(duì)此類(lèi)測(cè)試的難度的認(rèn)識(shí)。幸運(yùn)的是，雖然 EMC 合規(guī)性測(cè)試所需的設(shè)備和設(shè)施可能是獨(dú)一無(wú)二的，但許多測(cè)試實(shí)驗(yàn)室都有經(jīng)驗(yàn)豐富的員工來(lái)協(xié)助測(cè)試。

與合規(guī)性測(cè)試相關(guān)的成本通常會(huì)成為“現(xiàn)在付錢(qián)或以后付錢(qián)”的事件。由于測(cè)試通常在開(kāi)發(fā)結(jié)束時(shí)進(jìn)行，以獲得最終設(shè)計(jì)的完整認(rèn)證，因此成本可能很高。傳導(dǎo)和輻射發(fā)射的最終測(cè)試需要在經(jīng)過(guò)認(rèn)證的實(shí)驗(yàn)室中使用校準(zhǔn)的測(cè)試設(shè)備和受控的電氣環(huán)境進(jìn)行。由于許多實(shí)驗(yàn)室都被預(yù)訂了數(shù)周，因此進(jìn)行全面認(rèn)證測(cè)試的實(shí)驗(yàn)室時(shí)間的可用性也可能是一個(gè)問(wèn)題。

但是，將系統(tǒng)傳導(dǎo)和輻射的 EMC 問(wèn)題的發(fā)現(xiàn)推遲到項(xiàng)目結(jié)束時(shí)，會(huì)將它們的糾正置于時(shí)間表中的一個(gè)階段，這可能是引入意外任務(wù)和延遲的最糟糕時(shí)間。更合理且通常成本更低的策略是在系統(tǒng)組裝開(kāi)始后立即執(zhí)行初步的 EMC 合規(guī)性測(cè)試。在項(xiàng)目的早期，日程安排更加靈活，設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)更容易接受設(shè)計(jì)中的修改。同樣，通常可以在高峰時(shí)間以外的其他預(yù)訂認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室找到用于初步測(cè)試的小段時(shí)間。

對(duì)于初步篩選，成本最低，測(cè)試實(shí)驗(yàn)室將在設(shè)計(jì)階段早期合作進(jìn)行預(yù)合規(guī)性測(cè)試。因此，在設(shè)計(jì)周期的早期執(zhí)行初步 EMC 測(cè)試所花費(fèi)的少量資源可以防止在產(chǎn)品計(jì)劃后期才發(fā)現(xiàn) EMC 問(wèn)題時(shí)發(fā)生的大量且昂貴的重新設(shè)計(jì)工作。

預(yù)一致性測(cè)試雖然完全合規(guī)性測(cè)試需要經(jīng)過(guò)認(rèn)證的實(shí)驗(yàn)室，但如果設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)希望自己進(jìn)行預(yù)合規(guī)性測(cè)試，則可以在測(cè)試設(shè)備數(shù)量最少的房間內(nèi)進(jìn)行測(cè)試。傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試所需的設(shè)備是線(xiàn)路阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò) （LISN） 和頻譜分析儀。LISN 是一種無(wú)源網(wǎng)絡(luò)，用于最大限度地減少?gòu)纳虡I(yè)電力線(xiàn)傳導(dǎo)的噪聲。它還提供了一個(gè)受控阻抗測(cè)試端口，用于監(jiān)控被測(cè)設(shè)備 （EUT） 的傳導(dǎo)發(fā)射。用于傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試的頻譜分析儀可以是基本型號(hào)，能夠執(zhí)行 150 kHz 至 30 MHz 的測(cè)量。

圖 1：傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試設(shè)置。

可以使用頻譜分析儀和適當(dāng)?shù)?a target="_blank">天線(xiàn)來(lái)完成輻射發(fā)射的初步測(cè)試。頻譜分析儀應(yīng)該能夠進(jìn)行從 30 MHz 到至少 900 MHz 的測(cè)量。頻譜分析儀執(zhí)行準(zhǔn)峰值測(cè)量并在顯示屏中顯示一致性參數(shù)限制的能力將使初步測(cè)試任務(wù)更容易執(zhí)行。用于初步輻射發(fā)射測(cè)試的天線(xiàn)應(yīng)具有與頻譜分析儀相似的帶寬，并且需要了解天線(xiàn)的增益與頻率特性。最好能夠在輻射發(fā)射 EMC 天線(xiàn)和 EUT 之間至少三米（10 英尺）的電氣安靜的房間內(nèi)進(jìn)行輻射發(fā)射測(cè)試。

圖 2：輻射發(fā)射測(cè)試設(shè)置。

一個(gè)例子將有助于說(shuō)明早期測(cè)試的好處。延遲系統(tǒng) EMC 測(cè)試的一個(gè)常見(jiàn)原因是錯(cuò)誤地認(rèn)為電源是大多數(shù) EMC 問(wèn)題的原因。因此，想法是，如果供應(yīng)已經(jīng)通過(guò)了獨(dú)立的監(jiān)管測(cè)試，系統(tǒng)將通過(guò)測(cè)試。這種誤解的部分原因是幾乎所有電源都基于開(kāi)關(guān)穩(wěn)壓器拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，而開(kāi)關(guān)穩(wěn)壓器固有地會(huì)產(chǎn)生傳導(dǎo)和輻射發(fā)射，需要在電源設(shè)計(jì)中加以緩解。然而，在許多情況下，電源被歸咎于系統(tǒng)內(nèi)的 EMC 問(wèn)題，而實(shí)際上它“只是傳遞者”。

即便如此，在項(xiàng)目結(jié)束時(shí)，已經(jīng)付出了很多努力來(lái)設(shè)計(jì)系統(tǒng)以滿(mǎn)足性能標(biāo)準(zhǔn)，如果出現(xiàn) EMC 合規(guī)性問(wèn)題，電源被認(rèn)為是最容易進(jìn)行合規(guī)性校正工作的目標(biāo)，而不會(huì)影響其他系統(tǒng)性能參數(shù)。即使系統(tǒng)通常是射頻發(fā)射的來(lái)源，這種看法也會(huì)出現(xiàn)，因?yàn)殡娫摧斎牒洼敵錾系碾娎|可能用作輻射發(fā)射的天線(xiàn)和傳導(dǎo)發(fā)射的導(dǎo)體。

通常可以在電源中添加噪聲抑制組件來(lái)解決此類(lèi) EMC 問(wèn)題，這是許多設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)最終采用的方法。對(duì)于使用內(nèi)部電源的產(chǎn)品，可以在饋入電源的導(dǎo)體上或電源輸出與系統(tǒng)電源輸入之間的電纜上添加 EMC 噪聲抑制組件。旁路電容器和鐵氧體磁芯是用于創(chuàng)建濾波器以解決 EMC 問(wèn)題的抑制組件。鐵氧體磁芯引入了與意外噪聲路徑串聯(lián)的額外電感阻抗，旁路電容器提供了一個(gè)低阻抗路徑來(lái)分流噪聲信號(hào)，以最大限度地減少信號(hào)傳播。

圖 3：傳導(dǎo)發(fā)射濾波器組件。

采用外部電源的系統(tǒng)在電源的輸入或輸出路徑上添加 EMC 抑制組件的能力可能會(huì)受到更多限制。輻射發(fā)射問(wèn)題通常通過(guò)放置在電源和系統(tǒng)之間的電纜上的鐵氧體磁芯來(lái)解決。但是與傳導(dǎo)發(fā)射相關(guān)的關(guān)注頻率足夠低，以至于許多應(yīng)用無(wú)法接受安裝在電源線(xiàn)周?chē)途徑?EMC 問(wèn)題所需的鐵氧體磁芯尺寸。在具有外部電源的系統(tǒng)中觀察到的傳導(dǎo)發(fā)射問(wèn)題通常最容易解決，方法是與電源供應(yīng)商合作修改現(xiàn)有電源的設(shè)計(jì)或選擇包含增強(qiáng)型傳導(dǎo)發(fā)射抑制組件的不同外部電源。全方位服務(wù)的電源供應(yīng)商，CUI擁有協(xié)助電源設(shè)計(jì)和選型的設(shè)備和經(jīng)驗(yàn)，包括預(yù)合規(guī)和最終 EMC 測(cè)試。

但是所有這些項(xiàng)目結(jié)束的活動(dòng)都應(yīng)該被認(rèn)為是減輕問(wèn)題的影響，而不是解決問(wèn)題的根源。此外，與電源相關(guān)的 EMC 抑制活動(dòng)仍需要設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)的時(shí)間，并且還可能影響與電源相關(guān)的安全證書(shū)。對(duì)安全證書(shū)的任何更改都將需要電源供應(yīng)商提供時(shí)間和資源，從而增加項(xiàng)目成本。在所有這些之后，如果添加傳導(dǎo)和輻射發(fā)射抑制組件不足以充分減少 EMC 問(wèn)題，系統(tǒng)電路可能仍需要修改以最大限度地減少 RF 信號(hào)的產(chǎn)生。

大多數(shù)管理團(tuán)隊(duì)都喜歡在預(yù)算范圍內(nèi)提前完成的項(xiàng)目。不幸的是，當(dāng)測(cè)試延遲到最后時(shí)，EMC 合規(guī)性問(wèn)題可能是項(xiàng)目最后一分鐘預(yù)算和進(jìn)度增加的常見(jiàn)來(lái)源。在項(xiàng)目的系統(tǒng)組裝階段執(zhí)行預(yù)合規(guī)性 EMC 測(cè)試有助于消除那些影響預(yù)算和進(jìn)度的設(shè)計(jì)變更。預(yù)合規(guī)性 EMC 測(cè)試還有助于確保在最終合規(guī)性測(cè)試期間不會(huì)出現(xiàn)任何問(wèn)題，從而有助于在預(yù)算范圍內(nèi)按時(shí)完成該項(xiàng)目階段。

審核編輯：郭婷