動(dòng)態(tài)

• 發(fā)布了文章 2024-11-07 11:54

  EBSD技術(shù)：解析其工作原理、數(shù)據(jù)采集與分辨率能力

  

  EBSD技術(shù)：材料顯微學(xué)的先進(jìn)工具電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)是一種在材料科學(xué)領(lǐng)域廣泛應(yīng)用的顯微學(xué)技術(shù)，它通過分析樣品與高能電子束相互作用時(shí)產(chǎn)生的反射電子的角度和相位差，來確定樣品的晶體結(jié)構(gòu)和晶粒取向等關(guān)鍵特征。EBSD技術(shù)的特點(diǎn)EBSD技術(shù)的核心在于其能夠保留SEM的常規(guī)特點(diǎn)的同時(shí)，利用電子回旋衍射效應(yīng)對(duì)反射電子進(jìn)行衍射分析，從而獲得晶體學(xué)信息。EBSD

  SEM 數(shù)據(jù)采集 電子束

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• 發(fā)布了文章 2024-11-07 11:51

  LED光衰現(xiàn)象解析與應(yīng)對(duì)策略

  

  LED光衰現(xiàn)象是LED照明技術(shù)中一個(gè)不可忽視的問題，它不僅關(guān)系到LED燈具的亮度維持，還直接影響到產(chǎn)品的使用壽命和經(jīng)濟(jì)效益。LED光衰現(xiàn)象概述LED光衰是指LED在長時(shí)間工作后，其發(fā)光亮度逐漸降低的現(xiàn)象。這種現(xiàn)象通常與LED的結(jié)溫、材料老化、電流密度、光熱效應(yīng)等因素有關(guān)。光衰不僅影響LED的照明效果，還可能導(dǎo)致燈具提前失效，因此對(duì)LED光衰的研究和控制具有重

  led led照明 芯片

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• 發(fā)布了文章 2024-11-07 11:50

  掃描電鏡工作原理

  

  電子束與樣品相互作用的深入解析掃描電子顯微鏡（SEM）是一種先進(jìn)的儀器，用于觀察和分析材料表面的微觀結(jié)構(gòu)。該設(shè)備通過電子槍發(fā)射的電子束，經(jīng)過電磁透鏡的聚焦和加速，與樣品發(fā)生相互作用。這些相互作用包括多種散射過程，導(dǎo)致電子束的方向或能量發(fā)生變化，進(jìn)而產(chǎn)生多種信號(hào)，如二次電子、背散射電子等，這些信號(hào)能夠揭示樣品的物理和化學(xué)特性。電子束轟擊固體發(fā)生的各種信號(hào)及深度

  SEM 儀器 掃描電鏡

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• 發(fā)布了文章 2024-11-07 11:43

  燈具揮發(fā)性有機(jī)化合物（VOC）鑒定

  

  揮發(fā)性物質(zhì)概述揮發(fā)性是指化合物從固態(tài)或液態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)闅鈶B(tài)或蒸汽的能力，這一過程主要受溫度和大氣壓的影響。在材料科學(xué)中，揮發(fā)性物質(zhì)的研究對(duì)于產(chǎn)品質(zhì)量和安全性至關(guān)重要。特別是在LED燈具制造領(lǐng)域，揮發(fā)性物質(zhì)的存在可能會(huì)對(duì)燈具的性能和壽命產(chǎn)生顯著影響。有機(jī)硅在LED封裝中的應(yīng)用有機(jī)硅作為LED封裝中廣泛使用的材料，其固化過程涉及將混合均勻的硅氧烷注入模具，并在特定條件

  led LED封裝 voc

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• 發(fā)布了文章 2024-11-06 14:34

  EBSD分析中的荷電效應(yīng)控制：導(dǎo)電鍍膜技術(shù)的應(yīng)用

  

  導(dǎo)電膜技術(shù)的應(yīng)用在電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)的應(yīng)用過程中，絕緣材料的樣品經(jīng)常會(huì)遇到電荷積聚問題，這不僅會(huì)降低圖像質(zhì)量，還會(huì)影響衍射數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。為了有效減少或消除這種電荷積聚效應(yīng)，采取適當(dāng)?shù)念A(yù)防措施是十分必要的。樣品表面處理的要點(diǎn)1.表面平整性：確保樣品表面盡可能地平整，減少因表面不均勻引起的電荷積聚。2.表面精拋光：對(duì)樣品表面進(jìn)行精細(xì)拋光，以降低由于表

  導(dǎo)電 電荷

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• 發(fā)布了文章 2024-11-06 14:33

  什么是AEC-Q102的恒定加速度測試？

  

  恒定加速度測試是一種關(guān)鍵的實(shí)驗(yàn)性方法，用于評(píng)估電子元件在模擬高速動(dòng)態(tài)條件下的性能。這種測試通過施加恒定的加速度來評(píng)估元件的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度和機(jī)械穩(wěn)定性，旨在揭示那些在標(biāo)準(zhǔn)測試中可能未被發(fā)現(xiàn)的潛在缺陷。這對(duì)于確保電子設(shè)備在關(guān)鍵應(yīng)用中的可靠性和安全性至關(guān)重要。測試機(jī)制恒定加速度測試模擬了電子元件在實(shí)際使用中可能遇到的離心力影響。在受控環(huán)境中，對(duì)元件施加恒定的加速度，以模

  機(jī)械 測試 電子元件

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• 發(fā)布了文章 2024-11-06 14:31

  三防測試：揭秘電子產(chǎn)品的可靠性檢測

  

  什么是三防測試？在電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和制造過程中，確保其能夠在各種惡劣環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行是至關(guān)重要的。三防試驗(yàn)，包括濕熱試驗(yàn)、霉菌試驗(yàn)和鹽霧試驗(yàn)，正是為了模擬這些極端條件而設(shè)計(jì)的，用以評(píng)估電子產(chǎn)品的環(huán)境耐受性。這些測試對(duì)于保證產(chǎn)品在實(shí)際應(yīng)用中的長期穩(wěn)定性和可靠性至關(guān)重要，尤其是在要求極高的軍事和航空航天領(lǐng)域。三防試驗(yàn)的詳細(xì)實(shí)施方法1.濕熱試驗(yàn)：該試驗(yàn)用于評(píng)估電工、電

  三防 可靠性測試 電子產(chǎn)品

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• 發(fā)布了文章 2024-11-06 14:29

  透射電子顯微鏡（TEM）：基礎(chǔ)知識(shí)概覽

  

  透射電子顯微鏡（TEM）概述透射電子顯微鏡（TEM）是材料科學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域中不可或缺的研究工具。對(duì)于新接觸TEM的科研人員而言，理解其基礎(chǔ)原理和操作對(duì)于高效利用這一設(shè)備至關(guān)重要。本文將詳細(xì)介紹TEM的基礎(chǔ)知識(shí)，以幫助新手快速掌握這一技術(shù)。TEM檢測的關(guān)鍵點(diǎn)TEM檢測主要關(guān)注材料的微觀結(jié)構(gòu)特征，包括元素分布、相組成、晶體缺陷等。這些特征在微觀層面上表現(xiàn)為不

  TEM 顯微鏡 電子顯微鏡

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• 發(fā)布了文章 2024-11-06 14:27

  LED封裝用膠無氯檢測與驗(yàn)證

  

  LED封裝膠水的關(guān)鍵作用在LED產(chǎn)品的制造過程中，LED封裝膠水發(fā)揮著核心作用，它不僅關(guān)系到光線的傳輸和熱量的釋放，還負(fù)責(zé)保護(hù)LED芯片不受外部環(huán)境的侵害。因此，封裝膠水的優(yōu)劣直接決定了LED產(chǎn)品的耐用性和穩(wěn)定性。LED制造商在挑選封裝膠水時(shí)，需要基于產(chǎn)品的性能指標(biāo)和實(shí)際應(yīng)用環(huán)境，精心選擇能夠滿足LED產(chǎn)品特別需求的膠水。氯含量控制的重要性在LED封裝膠水的

  led LED封裝 檢測

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• 發(fā)布了文章 2024-11-05 15:22

  高分辨透射電鏡粉末樣品制備技術(shù)解析

  

  透射電子顯微鏡（TEM）簡介透射電子顯微鏡（TEM）能夠通過電子束穿透樣品，揭示材料的微觀世界。這種顯微鏡通過電子與樣品原子的相互作用，捕捉到不同密度和厚度的圖像，從而展現(xiàn)樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu)。TEM具備極高的分辨率，達(dá)到0.1至0.2納米，并且能夠提供數(shù)萬至百萬倍的放大能力，專門用于觀察小于0.2微米的微觀結(jié)構(gòu)。金鑒實(shí)驗(yàn)室擁有先進(jìn)的TEM設(shè)備和專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，能

  TEM 顯微鏡 電鏡

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