動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2024-12-04 12:35

  什么是RoHS測試？

  

  RoHS，全稱為《電氣、電子設備中限制使用某些有害物質(zhì)指令》，是一個旨在限制電子電氣產(chǎn)品中特定有害物質(zhì)使用的法規(guī)。歐盟于2006年7月1日實施了RoHS指令的第一版（RoHS1.0），明確限制了六種有害物質(zhì)的使用，包括鉛、鎘、汞、六價鉻、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚。違反這些限制的產(chǎn)品在出口到歐盟時可能會受到重罰。RoHS2.02015年6月4日，歐盟通過指令(EU

  RoHS 測試 電氣

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• 發(fā)布了文章 2024-12-03 12:18

  LED驅(qū)動電源故障診斷與分析

  

  在LED照明系統(tǒng)中，驅(qū)動電源的穩(wěn)定性對于整個燈具的壽命至關重要。盡管LED光源本身具有較長的使用壽命，但LED驅(qū)動電源的復雜性往往導致其成為系統(tǒng)中的薄弱環(huán)節(jié)。據(jù)統(tǒng)計，超過80%的LED燈具失效是由于驅(qū)動電源的問題引起的。電子元器件的老化問題電子元器件是LED驅(qū)動電源的核心組成部分，包括電阻、電容、二極管、三極管等。這些元器件在長期使用過程中，可能會因為開路、

  led 照明系統(tǒng) 驅(qū)動電源

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• 發(fā)布了文章 2024-12-03 12:17

  材料失效分析方法匯總

  

  材料故障診斷學：失效分析技術失效分析技術，作為材料科學領域內(nèi)的關鍵分支，致力于運用科學方法論來識別、分析并解決材料與產(chǎn)品在實際應用過程中出現(xiàn)的故障問題。該技術對于增強產(chǎn)品的可靠性、改進設計、優(yōu)化制造流程、減少成本以及提升市場競爭力扮演著至關重要的角色。失效分析的科學方法論失效分析的科學方法論是一套系統(tǒng)化流程，它從識別失效模式著手，通過觀察失效現(xiàn)象，逐步推導出

  失效分析 材料 電子元器件

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• 發(fā)布了文章 2024-12-03 12:16

  電子背散射衍射(EBSD)技術在孿晶結(jié)構(gòu)分析中的應用研究

  

  電子背散射衍射（EBSD）技術作為一種先進的材料表征手段，其在孿晶分析中的應用日益廣泛。EBSD技術通過分析掃描電鏡中電子束與樣品表面相互作用產(chǎn)生的衍射菊池帶，能夠精確地確定材料的晶體結(jié)構(gòu)、取向以及晶界等信息。TWIP鋼(Fe–22wt.%Mn–0.6wt.%C,FCC)的孿生變形行為取向依賴性(a)拉伸真應變?yōu)?.3時試樣縱截面取向成像圖;(b)產(chǎn)生和未產(chǎn)

  材料 電子束 鎂合金

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• 發(fā)布了文章 2024-12-03 12:14

  雙束FIB-SEM系統(tǒng)在材料科學中的應用

  

  導語聚焦離子束掃描電鏡雙束系統(tǒng)（FIB-SEM）是一種先進的微納加工和成像技術，它在材料科學研究中扮演著不可或缺的角色。FIB-SEM系統(tǒng)能夠?qū)Σ牧线M行精確的定點切割和分析，從而揭示材料內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)和成分。以CdS微米線為例，通過光學顯微鏡觀察，我們可以看到微米線節(jié)點處可能含有其他物質(zhì)，但無法確定具體成分和內(nèi)部形貌。利用FIB-SEM技術，我們可以在節(jié)點處

  掃描電鏡 顯微鏡 材料

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• 發(fā)布了文章 2024-12-02 15:26

  什么是高低溫濕熱試驗（THB）？

  

  濕熱試驗概述濕熱試驗是環(huán)境工程領域中一種關鍵的測試方法，通過在控制的高溫和高濕環(huán)境下對產(chǎn)品進行暴露，以評估產(chǎn)品在實際使用中對潮濕環(huán)境的適應性和耐久性。這種測試對于確保電子產(chǎn)品、電氣設備、汽車零件、航空器材以及軍事裝備等產(chǎn)品在潮濕環(huán)境中的性能和可靠性至關重要。濕熱試驗的應用領域1.產(chǎn)品開發(fā)與設計階段在這個階段，濕熱試驗用于研究和評估潮濕環(huán)境對產(chǎn)品設計的影響。通

  恒定濕熱試驗 測試

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• 發(fā)布了文章 2024-12-02 15:25

  FIB測試技術

  

  聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡稱FIB）技術是一種精密的微納加工手段，它通過將離子束聚焦到極高的精度，實現(xiàn)對材料的精確蝕刻和加工。FIB技術的核心在于其能夠產(chǎn)生具有極細直徑的離子束，這使得它在納米尺度的加工領域中扮演著不可或缺的角色。FIB的工作原理FIB的工作原理基于離子源產(chǎn)生的離子束，這些離子在電場的作用下被加速并聚焦成細束。當這些高能離子

  fib 測試 離子束

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• 發(fā)布了文章 2024-12-02 15:24

  電子背散射衍射技術（EBSD）：原理、測試方法與應用領域

  

  電子背散射衍射電子背散射衍射技術（EBSD），作為一種尖端的材料分析手段，融合了掃描電子顯微鏡（SEM）的精細成像與電子衍射的晶體學分析技術。電子束與樣品的相互作用在EBSD測試中，首先利用SEM產(chǎn)生的高能電子束照射到材料表面。當電子束與樣品原子相互作用時，會產(chǎn)生多種信號，其中包括背散射電子。衍射現(xiàn)象電子束與樣品中的晶體結(jié)構(gòu)相互作用時，會發(fā)生衍射現(xiàn)象。衍射電

  SEM 探測器 顯微鏡

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• 發(fā)布了文章 2024-12-02 15:23

  X射線熒光光譜分析儀（XRF）：高效能譜分析技術

  

  元素檢測需要擁有先進的能量色散X熒光光譜儀，能夠為客戶提供高精度的元素分析服務，確保您的產(chǎn)品符合國際標準。元素檢測范圍可以針對多種元素進行精準檢測，確保您的產(chǎn)品符合RoHS指令的要求。1.RoHS指令限制物質(zhì)：包括鉛、鎘、汞、六價鉻、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚。2.鹵素族元素：如溴、氯等。3.其他元素：涵蓋銅、鐵、錫、鎳、錳、鉍、銻、銀、砷、鉻、鈷、鋁、汞、鋅等。

  分析儀 檢測 電氣設備

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• 發(fā)布了文章 2024-12-02 15:21

  LED燈珠變色與失效原因分析

  

  LED光源發(fā)黑現(xiàn)象LED光源以其高效、節(jié)能、環(huán)保的特性，在照明領域得到了廣泛應用。然而，LED光源在使用過程中出現(xiàn)的發(fā)黑現(xiàn)象，卻成為了影響其性能和壽命的重要因素。LED光源黑化的多重原因分析LED光源的黑化現(xiàn)象是一個復雜的問題，可能由多種因素引起。這些因素包括硫化、氯化、溴化、氧化、碳化以及化學不兼容化等。這些化學作用可能導致LED光源的表面出現(xiàn)黑色物質(zhì)，影

  led LED燈珠 光源

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