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PCB | 高速BGA 封裝與PCB 差分互連結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)與優(yōu)化

OUMx_pcbworld ? 來源:YXQ ? 2019-05-29 15:14 ? 次閱讀

隨著電子系統(tǒng)通信速率的不斷提升,BGA封裝與PCB互連區(qū)域的信號(hào)完整性問題越來越突出。針對(duì)高速BGA封裝與PCB差分互連結(jié)構(gòu)進(jìn)行設(shè)計(jì)與優(yōu)化,著重分析封裝與PCB互連區(qū)域差分布線方式,信號(hào)布局方式,信號(hào)孔/地孔比,布線層與過孔殘樁這四個(gè)方面對(duì)高速差分信號(hào)傳輸性能和串?dāng)_的具體影響。利用全波電磁場(chǎng)仿真軟件CST建立3D仿真模型,最后時(shí)頻域仿真驗(yàn)證了所述的優(yōu)化方法能夠有效改善高速差分信號(hào)傳輸性能,減小信號(hào)間串?dāng)_,實(shí)現(xiàn)更好的信號(hào)隔離。

近年來,球柵陣列(BGA)封裝因體積小,引腳多,信號(hào)完整性和散熱性能佳等優(yōu)點(diǎn)而成為高速IC廣泛采用的封裝類型。為了適應(yīng)高速信號(hào)傳輸,芯片多采用差分信號(hào)傳輸方式。隨著芯片I/O 引腳數(shù)量越來越多,BGA焊點(diǎn)間距越來越小,由焊點(diǎn)、過孔以及印制線構(gòu)成的差分互連結(jié)構(gòu)所產(chǎn)生的寄生效應(yīng)將導(dǎo)致衰減、串?dāng)_等一系列信號(hào)完整性問題,這對(duì)高速互連設(shè)計(jì)提出了嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。目前國內(nèi)外學(xué)者對(duì)于板級(jí)信號(hào)完整性問題的研究仍多集中于水平傳輸線或者單個(gè)過孔的建模與仿真,頻率大多在20 GHz以內(nèi)。對(duì)于包括過孔、傳輸線的差分互連結(jié)構(gòu)的傳輸性能以及耦合問題研究較少。并沒有多少技術(shù)去減少封裝與PCB互連區(qū)域垂直過孔間的串?dāng)_。

本文針對(duì)高速BGA封裝與PCB差分互連結(jié)構(gòu)進(jìn)行設(shè)計(jì)與優(yōu)化。著重分析改進(jìn)差分布線方式,信號(hào)布局方式,信號(hào)孔/地孔比,布線層與背鉆這四個(gè)方面對(duì)改善高速差分信號(hào)傳輸性能和串?dāng)_的具體影響。利用全波電磁場(chǎng)仿真軟件CST微波工作室建立3D仿真模型。仿真頻率最高達(dá)到40 GHz,在時(shí)域和頻域同時(shí)驗(yàn)證了所述優(yōu)化方法的有效性。

1 物理模型

1.1 差分互連結(jié)構(gòu)

在高速信號(hào)傳輸中,差分信號(hào)因具有減小軌道塌陷和電磁干擾、提高增益、消除共模噪聲和開關(guān)噪聲干擾等優(yōu)點(diǎn)而被廣泛使用。高速差分信號(hào)通過IC封裝到達(dá)PCB板各層進(jìn)行傳播,為了實(shí)現(xiàn)BGA封裝基板與PCB各層的電氣連接,由水平差分線和垂直差分過孔共同構(gòu)成了差分互連結(jié)構(gòu),如圖1所示。

圖1 BGA封裝與PCB板垂直互連結(jié)構(gòu)

1.2 仿真環(huán)境及參數(shù)設(shè)置

本文采用的仿真環(huán)境為全波電磁場(chǎng)仿真軟件CST微波工作室,集時(shí)頻域算法為一體,含多個(gè)全波及高頻算法,可仿真任意結(jié)構(gòu)、任意材料下的S 參數(shù),并可以與電路設(shè)計(jì)軟件聯(lián)合仿真。幾種優(yōu)化方案均由CST微波工作室建立三維物理模型,PCB 的層疊結(jié)構(gòu)如圖2 所示,PCB板共12層,第1,3,5,8,10,12層為信號(hào)層(走線層),第2,4,6,7,9,11 層為電源或地層。板厚為97.6 mil,板材介電常數(shù)3.8,損耗正切0.012。0.8 mm間距BGA扇出過孔間距為31.4 mil,過孔孔徑8 mil,線寬/線距5 mil,差分走線在第10層。

圖2 PCB板層疊結(jié)構(gòu)剖面圖

2 優(yōu)化與設(shè)計(jì)

本節(jié)著重從四個(gè)方面進(jìn)行設(shè)計(jì)優(yōu)化,以改善高速差分信號(hào)的傳輸性能及信號(hào)間串?dāng)_。分別為差分布線方式,信號(hào)分布方式,信號(hào)孔/地孔比,布線層選擇與過孔殘樁。CST仿真的結(jié)果以S 參數(shù)的形式體現(xiàn),仿真頻率最高達(dá)40 GHz,在時(shí)域和頻域同時(shí)驗(yàn)證所述優(yōu)化方法的有效性。

2.1 布線方式

差分信號(hào)從過孔引出時(shí),不同的布線方式會(huì)對(duì)差分信號(hào)的傳輸特性有很大的影響,如果傳輸線不能等長(zhǎng)等距,就會(huì)引起信號(hào)失真,產(chǎn)生共模噪聲。如圖3所示,信號(hào)從過孔引出時(shí)分別采取三種布線方式,0°,90°轉(zhuǎn)角,45°轉(zhuǎn)角,每對(duì)差分過孔周圍有兩個(gè)隔離地孔。布線在PCB板第10層。

圖3 三種差分線引出方式

圖4是以上三種不同布線方式的插入損耗。顯然,第一種水平對(duì)稱的方式傳輸性能最好。差分信號(hào)最重要的就是等長(zhǎng)等距,等長(zhǎng)的目的是要確保時(shí)序的準(zhǔn)確與對(duì)稱性,兩條傳輸線上的任何時(shí)延差或錯(cuò)位,都會(huì)導(dǎo)致差分信號(hào)失真,并使部分差分信號(hào)變成共模信號(hào),產(chǎn)生電磁干擾。等距的目的是保持差分阻抗的一致性。45°和90°轉(zhuǎn)角在布線時(shí)都無法做到絕對(duì)的等長(zhǎng)等距,產(chǎn)生相位差和共模噪聲。

圖4 不同布線方式下差分對(duì)的插入損耗

圖5和圖6分別從頻域和時(shí)域展示了三種布線方式所產(chǎn)生的共模噪聲。不論是45°轉(zhuǎn)角還是90°轉(zhuǎn)角,產(chǎn)生的共模噪聲都比0°高得多,而45°轉(zhuǎn)角布線要略優(yōu)于90°轉(zhuǎn)角。

圖5 不同布線方式下共模噪聲頻域比較

圖6 不同布線方式下共模噪聲時(shí)域比較

根據(jù)經(jīng)驗(yàn)法則,為了把錯(cuò)位維持在信號(hào)上升邊10%以內(nèi),要求兩線長(zhǎng)度匹配至上升邊空間延伸的10%以內(nèi)。這種情況下,對(duì)走線總長(zhǎng)度的匹配要求如下:

ΔL =0.1×RT×v

式中:ΔL 表示為錯(cuò)位維持在上升邊的10%以內(nèi),兩條走線之間的最大長(zhǎng)度偏差;RT表示信號(hào)的上升邊;v 表示差分信號(hào)的傳播速度。如果信號(hào)的傳播速度大致為6 in/ns,上升邊為100 ps,那么兩條走線的長(zhǎng)度應(yīng)匹配至其偏差小于60 mil。由于高速信號(hào)上升時(shí)間越來越短,留給緣于走線長(zhǎng)度偏差的錯(cuò)位預(yù)算在不斷變小,使得走線長(zhǎng)度之間的匹配顯得愈加重要。

因此在實(shí)際應(yīng)用中,應(yīng)盡量采用0°這樣水平對(duì)稱的方式布線,來達(dá)到等長(zhǎng)等距的目的。

2.2 信號(hào)分布方式

BGA封裝管腳在扇出時(shí)通過過孔連接至PCB板其他各層,幾十對(duì)差分對(duì)同時(shí)高密度、長(zhǎng)線并行,相鄰的傳輸線由于電場(chǎng)和磁場(chǎng)的作用(耦合電容/耦合電感),一對(duì)差分線傳輸?shù)男盘?hào)會(huì)對(duì)相鄰的傳輸線產(chǎn)生串?dāng)_[9]。由于BGA焊點(diǎn)的排列是固定的,因此焊盤和過孔的位置取決于焊點(diǎn)的分布,合理的BGA管腳信號(hào)布局可以改善差分對(duì)之間的串?dāng)_。不同信號(hào)分布方式見圖7。

圖7 不同信號(hào)分布方式

如圖7所示的兩種布局方式:3對(duì)信號(hào)橫向水平布置;3對(duì)信號(hào)正交布置。每對(duì)信號(hào)周圍各有兩個(gè)隔離地孔。中間為受擾線,兩邊為干擾線,根據(jù)走線將3對(duì)差分對(duì)定義成6個(gè)差分端口,D1~D3為BGA扇出端,通過觀察D4,D6端口對(duì)D2端口的遠(yuǎn)端串?dāng)_來分析相鄰?fù)ǖ赖拇當(dāng)_情況,由于兩邊對(duì)稱,只需觀察D4端口對(duì)D2端口的串?dāng)_。差分對(duì)遠(yuǎn)端串?dāng)_比較如圖8所示。

圖8 不同信號(hào)分布方式下差分對(duì)遠(yuǎn)端串?dāng)_比較

由圖8所示的結(jié)果可以看到,信號(hào)正交布局時(shí),由于孔?孔之間距離增大,孔?孔耦合減小,從端口D4到端口D2的遠(yuǎn)端串?dāng)_低于水平布局時(shí)的遠(yuǎn)端串?dāng)_。由表1可知,優(yōu)化后的遠(yuǎn)端串?dāng)_比原設(shè)計(jì)在大于5 GHz頻帶內(nèi)有5~15 dB的改善。圖9從時(shí)域也驗(yàn)證了正交布局的優(yōu)越性。優(yōu)化后的設(shè)計(jì)瞬態(tài)最大峰值噪聲比原設(shè)計(jì)降低了10 mV,如表1所示。

圖9 不同信號(hào)分布方式下差分對(duì)遠(yuǎn)端串?dāng)_時(shí)域響應(yīng)比較

表1 遠(yuǎn)端串?dāng)_比較

2.3 信號(hào)孔/地孔數(shù)量比

由于在設(shè)計(jì)中BGA焊點(diǎn)的間距是固定的,一味增加信號(hào)之間的距離來降低串?dāng)_不太可能,最簡(jiǎn)單的方法就是在重要信號(hào)孔周圍增加地孔隔離。以下四種方案信號(hào)孔/地孔(S G) 比分別為1∶1,1∶2,1∶3,1∶4,信號(hào)布局方式采取第2.2節(jié)中正交布局方式,如圖10所示。

四種方案遠(yuǎn)端串?dāng)_比較如圖11所示,S G 比為1∶2時(shí),差分信號(hào)的遠(yuǎn)端串?dāng)_要比1∶1時(shí)有很大改善。由表2可知,在5~30 GHz頻段,S G 比1∶2比1∶1遠(yuǎn)端串?dāng)_降低了8~17 dB。

在重要信號(hào)孔周圍增加地孔隔離,能夠縮短地回流路徑、降低信號(hào)過孔的電感不連續(xù)性,因此可以在一定程度上改善串?dāng)_,但是很快就會(huì)飽和,S G 比1∶4與1∶3時(shí)差別已然不大,遠(yuǎn)端串?dāng)_的改善很有限。4種方案遠(yuǎn)端串?dāng)_的時(shí)域仿真結(jié)果如圖12所示,可以得到與頻域同樣的分析結(jié)果。從時(shí)域結(jié)果可得到4種方案的瞬態(tài)最大峰值噪聲,S G 比1∶1時(shí)高達(dá)22 mV,1∶2時(shí)則很快降低到6 mV,1∶3和1∶4時(shí)均在1.6 mV左右,相差不到0.03 mV,如表2所示。

圖11 四種方案遠(yuǎn)端串?dāng)_比較

圖12 四種方案遠(yuǎn)端串?dāng)_時(shí)域響應(yīng)比較

表2 遠(yuǎn)端串?dāng)_比較

由于BGA封裝引腳數(shù)量有限,并不能無上限地增加地孔數(shù)量。在串?dāng)_影響和引腳數(shù)量的權(quán)衡之下,20 GHz以內(nèi)S G 比1∶2與1∶3區(qū)別不大,選擇1∶2即可。20 GHz以上時(shí),S G 比1∶3要明顯優(yōu)于1∶2。

2.4 布線層選擇與過孔Stub的影響

在重要信號(hào)孔周圍增加地孔隔離是降低串?dāng)_最簡(jiǎn)單的方法,但是很快就飽和了,而且這樣很難達(dá)到一個(gè)理想的屏蔽。在封裝與PCB互連區(qū)域,高速差分對(duì)之間除了孔?孔的耦合,線?孔、孔?線耦合也都是引起串?dāng)_的重要因素。此刻,除了考慮之前的三個(gè)方面影響,還應(yīng)分析和研究布線層以及過孔殘樁對(duì)串?dāng)_的影響。圖13的情況,三個(gè)差分對(duì)分別布在不同層且具有不同過孔Stub長(zhǎng)度,信號(hào)正交布局,每對(duì)差分過孔周圍設(shè)置6個(gè)隔離地孔。圖13(a)中3個(gè)差分對(duì)都布在PCB第10層,靠近底層。圖13(b)中兩側(cè)的干擾線從第10層移到第3層,且將長(zhǎng)Stub背鉆59.1 mil。這樣兩邊干擾信號(hào)與中間受擾信號(hào)之間孔?孔耦合的垂直長(zhǎng)度顯著減少。圖13(c)與圖13(b)恰好相反,中間的受擾線布在第3層并且背鉆,兩邊干擾線布在第10 層。圖13(d)中間受擾線布在第10層,兩邊干擾線布在第3層且保留長(zhǎng)Stub。

圖13 差分對(duì)布線層選擇以及過孔殘樁對(duì)遠(yuǎn)端串?dāng)_的影響

遠(yuǎn)端串?dāng)_的頻域比較如圖14 所示,與方案(a)相比,方案(b)減小了兩邊干擾信號(hào)過孔的垂直長(zhǎng)度,孔?孔耦合減少,而且3對(duì)差分線不在同一層,線?線之間耦合也減小了,串?dāng)_會(huì)有很大改善。由表3 可知,在5~30 GHz頻帶內(nèi),方案(b)比方案(a)遠(yuǎn)端串?dāng)_改善了4~12 dB。方案(c)與(b)的區(qū)別在于(c)有多余的孔線耦合,(c)中受擾線放在第3層且背鉆,干擾線放在第10層,雖然孔?孔耦合也可以減小,但是兩邊長(zhǎng)長(zhǎng)的干擾信號(hào)孔會(huì)對(duì)中間差分線產(chǎn)生孔?線干擾。而方案(b)中,由于干擾信號(hào)孔背鉆,受擾信號(hào)在經(jīng)過時(shí),并沒有長(zhǎng)Stub對(duì)差分線的干擾。由此,方案(b)的串?dāng)_是最小的。如果沒有背鉆,如方案(d),雖然三對(duì)信號(hào)差分線不在同一層,但長(zhǎng)長(zhǎng)的Stub不僅會(huì)影響阻抗的連續(xù)性,使自身差分信號(hào)產(chǎn)生諧振,還會(huì)增大相鄰差分信號(hào)之間的串?dāng)_,甚至都不如方案(a)將信號(hào)都布置在靠近底層。

圖14 四種方案遠(yuǎn)端串?dāng)_比較

從時(shí)域仿真結(jié)果中可以得到與頻域同樣的分析結(jié)果,如圖15所示。由表3可知,四種方案的瞬態(tài)峰值噪聲,方案(b)最小,方案(d)最大。因此,在今后的設(shè)計(jì)中,為避免過孔長(zhǎng)Stub對(duì)信號(hào)的干擾,差分線應(yīng)盡量靠近PCB板底層布線,多走內(nèi)部帶狀線。幾對(duì)并行的差分信號(hào)可分別布置在不同信號(hào)層以降低串?dāng)_,但要注意布在淺層的信號(hào)過孔一定要背鉆。

圖15 四種方案遠(yuǎn)端串?dāng)_時(shí)域響應(yīng)比較

表3 遠(yuǎn)端串?dāng)_比較

3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果比較與分析

通過對(duì)以上仿真結(jié)果進(jìn)行比較與分析,可以得到如下設(shè)計(jì)和優(yōu)化建議:

(1)差分信號(hào)從過孔引出時(shí),為滿足等長(zhǎng)等距的要求,應(yīng)盡量采用水平對(duì)稱的布線方式,以達(dá)到最佳的傳輸性能和最小的共模噪聲。如果布線時(shí)無法做到絕對(duì)的水平對(duì)稱,45°轉(zhuǎn)角布線要優(yōu)于90°轉(zhuǎn)角布線。

(2)BGA封裝信號(hào)引腳布局采用正交方式,可充分降低差分對(duì)之間串?dāng)_的影響。與水平布局相比,正交布局在5~30 GHz頻帶內(nèi)串?dāng)_有5~15 dB的改善。

(3)在重要信號(hào)孔周圍增加地孔隔離,可以在一定程度上改善串?dāng)_,但是很快就會(huì)飽和,由仿真結(jié)果可知:20 GHz以內(nèi)給每一對(duì)信號(hào)孔周圍布置4個(gè)地孔,就可以很好的降低差分信號(hào)間的串?dāng)_,滿足信號(hào)完整性要求。20 GHz以上時(shí),可在某些高速信號(hào)周圍布置6個(gè)隔離地孔,以改善信號(hào)之間的串?dāng)_。

(4)在選擇布線層時(shí),為避免過孔長(zhǎng)Stub對(duì)信號(hào)的干擾,差分線應(yīng)盡量靠近PCB板底層布線,走內(nèi)部帶狀線。如果很多對(duì)差分對(duì)并行傳輸,幾對(duì)差分信號(hào)可分別布置在不同信號(hào)層以降低串?dāng)_,但要注意布在淺層的差分信號(hào)過孔一定要背鉆。

4 結(jié)論

本文通過對(duì)高速BGA封裝與PCB差分互連結(jié)構(gòu)的優(yōu)化設(shè)計(jì),利用CST全波電磁場(chǎng)仿真軟件進(jìn)行3D建模,分別研究了差分布線方式、信號(hào)布局方式、信號(hào)孔/地孔比、布線層與過孔殘樁這四個(gè)方面對(duì)高速差分信號(hào)傳輸性能和串?dāng)_的具體影響。

時(shí)頻域仿真結(jié)果表明,所述優(yōu)化方法能夠有效改善高速差分信號(hào)傳輸性能,減小差分信號(hào)間串?dāng)_,實(shí)現(xiàn)更好的信號(hào)隔離。為保證高速信號(hào)傳輸系統(tǒng)的信號(hào)完整性提供了重要依據(jù),對(duì)于高速PCB設(shè)計(jì)具有一定的指導(dǎo)意義。

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原文標(biāo)題:高速BGA 封裝與PCB 差分互連結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)與優(yōu)化

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    發(fā)表于 02-23 14:38 ?1794次閱讀
    什么是直接<b class='flag-5'>互連結(jié)構(gòu)</b>(direct interconnecti

    高速BGA封裝PCB互連結(jié)構(gòu)進(jìn)行設(shè)計(jì)與優(yōu)化

    目前國內(nèi)外學(xué)者對(duì)于板級(jí)信號(hào)完整性問題的研究仍多集中于水平傳輸線或者單個(gè)過孔的建模與仿真,頻率大多在20 GHz以內(nèi)。對(duì)于包括過孔、傳輸線的互連結(jié)構(gòu)的傳輸性能以及耦合問題研究較少。并沒有多少技術(shù)去減少
    的頭像 發(fā)表于 09-02 13:40 ?2725次閱讀

    高速BGA封裝PCB互連結(jié)構(gòu)進(jìn)行設(shè)計(jì)與優(yōu)化

    本文針對(duì)高速BGA封裝PCB互連結(jié)構(gòu)進(jìn)行設(shè)計(jì)與
    的頭像 發(fā)表于 09-28 11:29 ?2732次閱讀
    <b class='flag-5'>高速</b><b class='flag-5'>BGA</b><b class='flag-5'>封裝</b>與<b class='flag-5'>PCB</b><b class='flag-5'>差</b><b class='flag-5'>分</b><b class='flag-5'>互連結(jié)構(gòu)</b>進(jìn)行設(shè)計(jì)與<b class='flag-5'>優(yōu)化</b>

    深度分析:BGA封裝PCB互連結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)與優(yōu)化資料下載

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    發(fā)表于 04-19 08:42 ?3次下載
    深度分析:<b class='flag-5'>BGA</b><b class='flag-5'>封裝</b>與<b class='flag-5'>PCB</b><b class='flag-5'>差</b><b class='flag-5'>分</b><b class='flag-5'>互連結(jié)構(gòu)</b>的設(shè)計(jì)與<b class='flag-5'>優(yōu)化</b>資料下載

    高速pcb設(shè)計(jì)中接地過孔對(duì)傳輸性能的影響

    互連。過孔做為互連結(jié)構(gòu)之一,就相當(dāng)于一個(gè)信號(hào)傳輸?shù)囊环N離散結(jié)構(gòu),會(huì)導(dǎo)致高速pcb設(shè)計(jì)中的信號(hào)反射、衰減,信號(hào)完整性問題,影響信號(hào)傳輸質(zhì)量的重
    的頭像 發(fā)表于 10-09 11:06 ?5930次閱讀

    高速BGA封裝PCB互連結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)

    針對(duì)高速BGA封裝PCB互連結(jié)構(gòu)進(jìn)行設(shè)計(jì)與
    發(fā)表于 08-26 16:32 ?805次閱讀

    詳細(xì)介紹BGA封裝PCB互連結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)與優(yōu)化

    為了適應(yīng)高速信號(hào)傳輸,芯片多采用分信號(hào)傳輸方式。隨著芯片I/O 引腳數(shù)量越來越多,BGA焊點(diǎn)間距越來越小,由焊點(diǎn)、過孔以及印制線構(gòu)成的
    的頭像 發(fā)表于 09-28 17:28 ?834次閱讀
    詳細(xì)介紹<b class='flag-5'>BGA</b><b class='flag-5'>封裝</b>與<b class='flag-5'>PCB</b><b class='flag-5'>差</b><b class='flag-5'>分</b><b class='flag-5'>互連結(jié)構(gòu)</b>的設(shè)計(jì)與<b class='flag-5'>優(yōu)化</b>

    優(yōu)化互連結(jié)構(gòu)的熱應(yīng)力分析與介電材料選擇

    線介電材料的選擇進(jìn)行優(yōu)化。結(jié)果表明,總體互連線介電材料的熱膨脹系數(shù)對(duì)銅互連結(jié)構(gòu)的熱應(yīng)力影響較小,而彈性模量對(duì)其影響較大;各層介電材料熱應(yīng)力與彈性模量成正比,SiN界面熱應(yīng)力與彈性模量成反比。最后,為了降低銅互
    的頭像 發(fā)表于 12-03 16:54 ?275次閱讀
    <b class='flag-5'>優(yōu)化</b>銅<b class='flag-5'>互連結(jié)構(gòu)</b>的熱應(yīng)力分析與介電材料選擇
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