JTAG（聯合測試工作組）是一種國際標準測試協議（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片內部測試。現在多數的高級器件都支持JTAG協議，如DSP、FPGA器件等。標準的JTAG接口是4線：TMS、TCK、TDI、TDO，分別為模式選擇、時鐘、數據輸入和數據輸出線。

如今大多數比較復雜的器件都支持 JTAG 協議，如 ARM 、 DSP 、 FPGA 器件等。標準的 JTAG 接口是 4 線： TMS 、 TCK 、 TDI 、 TDO ，分別為測試模式選擇、測試時鐘、測試數據輸入和測試數據輸出。

JTAG最初是用來對芯片進行測試的，JTAG的基本原理是在器件內部定義一個TAP（測試訪問口）通過專用的JTAG測試工具對內部節點進行測試。JTAG測試允許多個器件通過JTAG接口串聯在一起，形成一個JTAG鏈，能實現對各個器件分別測試。如今，JTAG接口還常用于實現ISP（在系統編程），對FLASH等器件進行編程。

JTAG編程方式是在線編程，傳統生產流程中先對芯片進行預編程然后再裝到板上，簡化的流程為先固定器件到電路板上，再用JTAG編程，從而大大加快工程進度。JTAG接口可對DSP芯片內部的所有部件進行編程。

TAG引腳定義：

具有JTAG口的芯片都有如下JTAG引腳定義：

TCK——測試時鐘輸入；

TDI——測試數據輸入，數據通過TDI輸入JTAG口；

TDO——測試數據輸出，數據通過TDO從JTAG口輸出；

TMS——測試模式選擇，TMS用來設置JTAG口處于某種特定的測試模式。

可選引腳TRST——測試復位，輸入引腳，低電平有效。

含有JTAG口的芯片種類較多，如CPU、DSP、CPLD等。

JTAG內部有一個狀態機，稱為TAP控制器。TAP控制器的狀態機通過TCK和TMS進行狀態的改變，實現數據和指令的輸入。