我們討論了如何設計溫升問題的電路類似方法。我們把熱源建模成了電流源。根據系統組件的物理屬性,計算得到熱阻和熱容。遍及整個網絡的各種電壓代表各個溫度。
本文中,我們把圖 1 所示模型的瞬態響應與圖 3 所示公開刊發的安全工作區域(SOA 曲線)部分進行了對比。
根據 CSD17312Q5 MOSFET、引線框以及貼裝 MOSFET 的印制電路板 (PWB) 的物理屬性,估算得到圖 1 的各個值。在查看模型時,可以確定幾個重要的點。PWB 到環境電阻(105oC/W)為到環境的最低電阻通路,其設定了電路的允許 DC損耗。將溫升限制在 100oC,可將電路的允許 DC 損耗設定為 1 瓦。其次,存在一個 10 秒鐘的 PWB 相關時間恒量,所以其使電路板完全發熱的時間相當長。因此,電路可以承受更大的電脈沖。例如,在一次短促的脈沖期間,所有熱能對芯片熱容充電,同時在更小程度上引線框對熱容充電。通過假設所有能量都存儲于裸片電容中并求解方程式(dV = I * dt / C)得到 I,我們可以估算出芯片電容器可以存儲多少能量。結果是,I =dV * C /dt = 100 oC * 0.013F / 1ms =1300 瓦,其與圖 3 的 SOA 曲線圖相一致。
圖 2 顯示了圖 1 的仿真結果以及由此產生的電壓響應。其功耗為 80 瓦,不同的時間恒量一眼便能看出。綠色曲線為裸片溫度,其迅速到達一個 PWB 相關恒定電壓(藍色曲線)。您還可以看到一個引線框的第二時間恒量(紅色曲線),其稍微有一些滯后。最后,您還可以看見 PWB 的近似線性充電,因為大多數熱能(電流)都流入其散熱電容。
圖 2 熱能流入 PWB 時明確顯示的三個時間恒量
我們進行了一系列的仿真,旨在驗證模型的準確性。圖 3 顯示了這些仿真的結果。紅色標注表示每次仿真的結果。將一個固定電源(電流)放入電路中,相應間隔以后對裸片電壓(溫升)進行測量。模型始終匹配 SOA 曲線。這樣做的重要性是,您可以使用該模型的同時使用不同的散熱片和 PWB 參數。例如,該 SOA 數據是針對缺乏強散熱能力的最小尺寸 PWB。我們可以增加電路板尺寸來降低其環境熱阻,或者增加銅使用量來提供更好的熱傳播—最終降低溫度。增加銅使用量也可以提高散熱能力。
圖 3 散熱模型與指示點的 MOSFET CSD17312 SOA 曲線一致
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