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測量高容量MLCC時(shí)不要忽略了這六個(gè)因素

SwM2_ChinaAET ? 來源:未知 ? 作者:李倩 ? 2018-05-04 09:17 ? 次閱讀

作為一個(gè)技術(shù)支持工程師,每天遇到客戶不同的技術(shù)問題,其中有些客戶測量高容量MLCC時(shí),往往未能獲得規(guī)格書上列明的標(biāo)稱電容量,直覺是壞料或是買錯(cuò)貨。再三仔細(xì)查問他們的測量過程時(shí),原來忽略了這些……

No.1

頻率和電壓

I類和II類MLCC電容的實(shí)際測量頻率和電壓各有不同。如I類MLCC產(chǎn)品,以Kemet C0402C330J3GACTU 為例,它的測量頻率為1MHz±10%,測量交流電壓為1.0±0.2Vrms。II類MLCC產(chǎn)品,如SamsungCL03A225MP3CRNC ,它的測量測量頻率為1KHz±10%,測量交流電壓為 0.5 ± 0.1Vrms。

表一 I類和II類MLCC的測量頻率和電壓

No.2

工作溫度

我們常常見到不同的MLCC有不同的TCC系數(shù)(電容溫度系數(shù)/Temperature Coefficient of Capacitance)。TCC是指在特定的溫度內(nèi),溫度每變化1℃時(shí),電容的變化數(shù)值與該溫度下的電容變化的比值。

圖一 I類和II類MLCC的溫度特性和隨溫度的電容變化

I類MLCC有較穩(wěn)定的TCC表現(xiàn),你會(huì)發(fā)現(xiàn)它的電容量隨溫度呈線性變化,但I(xiàn)I類MLCC的電容器是隨溫度呈不規(guī)則變化,這是由于鈦酸鋇(BaTiO 3)的介電材料的性質(zhì)。所以我們測量MLCC時(shí)必須在指定的工作溫度下進(jìn)行。

No.3

直流偏置

直流偏置是影響MLCC電容的重要電參數(shù),特別是直流偏置會(huì)使II類MLCC電容隨著直流電壓增加而損耗。II類MLCC基于具有鐵電偶極子的BaTiO3,直流偏置會(huì)限制偶極運(yùn)動(dòng),導(dǎo)致II類MLCC介電常數(shù)和電容的降低。盡管I類MLCC的介電常數(shù)比X5R,X7R和Y5V低, 但它電容量受直流電壓影響是比較穩(wěn)定的。 Y5V介電常數(shù)最高,但有很嚴(yán)重的老化。

圖二 直流偏置對MLCC影響

No.4

交流電壓

由于I類MLCC以順電材料組成,它的電容不會(huì)因交流電壓轉(zhuǎn)變而變化,但I(xiàn)I類MLCC電容是隨著交流電壓的增加而變化。在II類MLCC中,Y5V顯示交流電壓的變化比X5R/X7R更嚴(yán)重,這是由于鐵電材料的電壓對極化曲線的非線性特性。

圖三 10uF X7R 6.3V的電容量在不同交流電壓的轉(zhuǎn)變

請注意,如果過多電壓施加到電容器上,有可能導(dǎo)致由內(nèi)部電介質(zhì)層的斷裂而引起的短路。這持續(xù)施加過多電壓直到斷裂的時(shí)間性,是取決于電壓多少和環(huán)境溫度。

No.5

放置時(shí)間

II類MLCC的電容量隨室溫中長時(shí)間放置呈對數(shù)關(guān)系減少,但I(xiàn)類MLCC由順電性質(zhì)的材料組成而不會(huì)有老化現(xiàn)象。老化本質(zhì)上是可逆的,但元件的老化是不能阻止的。在MLCC的試驗(yàn)性能前,我們需要進(jìn)行熱處理。即通過在居里點(diǎn)以上加熱(150℃至少1小時(shí))并冷卻至室溫,將MLCC晶體結(jié)構(gòu)恢復(fù)到其最佳的無序排列,從而實(shí)現(xiàn)最大電容量。

圖四 不同電容的老化特性

No.6

合適的LCR測試儀

市場上大部份LCR測試儀操作簡便,功能直接,能滿足我們工程師對元件的檢驗(yàn)和電子維修測試要求。但當(dāng)測試高容量MLCC時(shí),推薦選用具有ALC(自動(dòng)電平控制/Automatic Level Control)功能的LCR測試儀。ALC是針對由于元件本身變化,環(huán)境引起工作點(diǎn)變化等,在測試電路中加入的穩(wěn)定電平的電路,從而自動(dòng)糾正偏移的電平回到要求的數(shù)值。B&K Precision895就是其中一款具有ALC功能的LCR測試儀。

圖五 B&K Precision 895和它的測量設(shè)置菜單

通過ALC功能,您可以保持施加到被測的MLCC的測量信號到恒定電壓水平。但如果沒有打開ALC功能,很大可能會(huì)導(dǎo)致高容量MLCC讀數(shù)被錯(cuò)誤讀低。

最后的結(jié)論

綜上所述,大家在測試高容量MLCC性能時(shí),請?zhí)貏e留意以下三點(diǎn)。

1)在測量前進(jìn)行熱處理

2)按照數(shù)據(jù)手冊上的指定工作溫度,電壓和頻率進(jìn)行測試

3)推薦使用帶有ALC功能的測試設(shè)備進(jìn)行測試

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原文標(biāo)題:【從業(yè)者說】高容量MLCC測不準(zhǔn)?原來你忽略了這六個(gè)因素

文章出處:【微信號:ChinaAET,微信公眾號:電子技術(shù)應(yīng)用ChinaAET】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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