HAST測(cè)試的核心宗旨

HAST測(cè)試的核心宗旨

宗旨：HAST測(cè)試的主要宗旨是通過模擬極端環(huán)境條件，加速半導(dǎo)體元器件的失效過程，以此來(lái)驗(yàn)證元器件在高溫、高濕、高壓條件下的可靠性。這種測(cè)試方法能夠有效縮短測(cè)試周期，快速揭示產(chǎn)品潛在的缺陷，例如材料分層、開裂、短路等問題。

失效原因：HAST測(cè)試中的失效原因主要包括濕氣滲透導(dǎo)致的材料分解、結(jié)合力減弱、腐蝕等現(xiàn)象。具體表現(xiàn)在鋁線腐蝕、芯片及PCB的分層、封裝時(shí)銀膏吸水導(dǎo)致的爆米花效應(yīng)，以及外引腳錫短路等問題。

PCT測(cè)試的核心宗旨

宗旨：PCT測(cè)試旨在將樣品置于極端的溫度、飽和濕度和壓力條件下，以評(píng)估樣品對(duì)高濕環(huán)境的耐受能力。金鑒實(shí)驗(yàn)室提供專業(yè)的PCT測(cè)試服務(wù)，幫助半導(dǎo)體、微電子等行業(yè)的企業(yè)評(píng)估其產(chǎn)品的密封性和老化性能，確保產(chǎn)品在市場(chǎng)中的競(jìng)爭(zhēng)力。

失效原因：PCT測(cè)試中的失效原因與HAST相似，主要是由于大量水氣凝結(jié)滲透導(dǎo)致的分層、氣泡、白點(diǎn)等失效現(xiàn)象。

HAST與PCT的箱體構(gòu)造與特性

HAST與PCT的箱體構(gòu)造與特性

構(gòu)造：HAST試驗(yàn)箱是一個(gè)密封的溫濕度試驗(yàn)箱，其內(nèi)部壓力超過一個(gè)大氣壓，通常設(shè)計(jì)為圓筒形狀。PCT試驗(yàn)箱采用不銹鋼圓形試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu)，內(nèi)含一個(gè)能夠產(chǎn)生100%飽和環(huán)境的水加熱器。

特性：由于內(nèi)部壓力的特殊性，HAST試驗(yàn)箱需要特殊的連接器設(shè)計(jì)，以保證在高壓環(huán)境下的電氣連接。PCT試驗(yàn)箱體積較小，成本較低，操作簡(jiǎn)單，也被廣泛應(yīng)用于消毒工作。

HAST測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

HAST測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

參考標(biāo)準(zhǔn)：HAST測(cè)試通常參考JEDEC標(biāo)準(zhǔn)，例如130°C、85%相對(duì)濕度、96小時(shí)測(cè)試周期，以及125%的偏壓等。

說(shuō)明：具體的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)可以根據(jù)產(chǎn)品特性和行業(yè)需求進(jìn)行選擇。

PCT測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

參考標(biāo)準(zhǔn)：PCT測(cè)試主要參考IEC 60068 - 2 - 66、MIL - STD - 810G Method 514、GB/T 2424.40等標(biāo)準(zhǔn)。

說(shuō)明：美國(guó)軍方標(biāo)準(zhǔn)對(duì)試驗(yàn)的介紹較為詳細(xì)，但應(yīng)用于消費(fèi)電子產(chǎn)品可能過于嚴(yán)苛，因此不推薦；GB/T標(biāo)準(zhǔn)主要參考IEC標(biāo)準(zhǔn)編寫，建議以IEC原版標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。

HAST測(cè)試的優(yōu)缺點(diǎn)

優(yōu)點(diǎn)：HAST測(cè)試能夠顯著縮短測(cè)試周期，加速產(chǎn)品失效過程，快速暴露產(chǎn)品缺陷；同時(shí)，它還能加速腐蝕和離子遷移過程，有助于評(píng)估產(chǎn)品的可靠性；并且，HAST測(cè)試的應(yīng)用范圍廣泛。

缺點(diǎn)：HAST測(cè)試的設(shè)備較為復(fù)雜，成本較高，后期升級(jí)困難；可能出現(xiàn)與實(shí)際應(yīng)用環(huán)境不符的失效機(jī)理，結(jié)果判斷需謹(jǐn)慎；對(duì)控制器的要求較高，需要控制多個(gè)參數(shù)。

PCT測(cè)試的優(yōu)缺點(diǎn)

優(yōu)點(diǎn)：PCT測(cè)試的設(shè)備簡(jiǎn)單，成本低，操作方便；能夠有效測(cè)試產(chǎn)品的密封性能和老化性能；試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)明確，便于參考和執(zhí)行。

缺點(diǎn)：PCT測(cè)試的濕度控制較為單一，只能設(shè)定飽和濕度（100%）；對(duì)于濕度控制要求高的產(chǎn)品，可能無(wú)法滿足精確測(cè)試需求；試驗(yàn)時(shí)間相對(duì)較長(zhǎng)，不如HAST測(cè)試快速。