美國 inTEST 高低溫沖擊熱流儀助力半導體芯片研發
上海伯東代理美國 inTEST 高低溫沖擊熱流儀兼容各品牌半導體測試機, 可正確評估與參數標定芯片開發, 器件或模塊研發, 品質檢查, 第三方認證, 失效分析, FAE 等幾乎所有流程, 高低溫沖擊測試作為一種常見的測試手段, 適用于 IGBT, MOSFET, 三極管, 二極管等各類半導體特性測試.
美國 inTEST 高低溫沖擊熱流儀
inTEST 高低溫沖擊熱流儀特性
1. 變溫速率更快, 每秒可快速升溫/降溫 15 °C
2. 溫控精度: ±1℃
3. 實時監測待測芯片真實溫度, 可隨時調整沖擊氣流溫度
4. 針對 PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個IC(模塊), 可單獨進行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件
5. 對測試機平臺 load board上 的 IC 進行溫度循環 / 沖擊; 傳統高低溫箱無法針對此類測試
6. 對整塊集成電路板提供準確且快速的環境溫度
7.inTEST 熱流儀兼容各品牌半導體測試機, 通訊方便, 無異常中斷風險, 可連續運行.
inTEST 高低溫沖擊熱流儀熱銷型號
型號 | BT 28 | ATS-545 | ATS-710E | ECO-710E | ATS-535 |
類型 | 桌面型 | 移動式 | 移動式 | 移動式 | 移動式 |
溫度范圍 °C | -28 至 +225 | -75 至 + 225 | -75至+225 | -80 至 +225 | -60 至 +225 |
變溫速率 | -10 至 +125°C, 約 10 S | -55 至 +125°C 約 10 S | -55 至 +125°C 約 10 s | -55 至 +125°C, ≤ 10S | -40至+ 125°C < 12 s |
空壓機 | 根據應用選配 | 額外另配 | 額外另配 | 額外另配 | 內部集成空壓機 |
控制方式 | 觸摸屏 | 旋鈕式 | 觸摸屏 | 觸摸屏 | 旋鈕式 |
氣體流量 scfm | 4-14 | 4 至 18 | 4 至 18 | 4 至18 SCFM | 5 |
溫度顯示和分辨率 | +/- 0.1°C | ||||
溫度精度 | 1.0°C（根據 NIST 標準校準時） | ||||
200-230V +/-10% VAC, 50 Hz, 15 A | 200-250VAC | 200-250VAC | 200-250VAC | 220±10%VAC | |
上海伯東美國 inTEST 高低溫沖擊熱流儀廣泛應用于車載芯片及器件, 電源芯片, 功率器件, 通信芯片, 光纖收發器等溫度沖擊測試.
美國 inTEST 高低溫沖擊熱流儀
美國 inTEST ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設計, 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過 NIST 校準.通過 ISO 9001, CE, RoHS 認證. inTEST熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測試, 滿足芯片特性和故障分析的需求.
上海伯東是美國inTEST中國總代理.
上海伯東版權所有, 翻拷必究！
-
芯片
+關注
關注
456文章
51170瀏覽量
427244 -
半導體
+關注
關注
334文章
27703瀏覽量
222628 -
高低溫測試機
+關注
關注
0文章
46瀏覽量
1290 -
高低溫測試
+關注
關注
0文章
74瀏覽量
198
發布評論請先 登錄
相關推薦
冷熱沖擊和高低溫實驗的區別
高低溫試驗箱降溫原理是什么
inTEST ATS-545 熱流儀顯示行業光學檢測高低溫試驗方案
高低溫試驗箱的基本介紹
高低溫沖擊試驗箱—耐用與高效并存
深度探討：高低溫冷熱沖擊試驗箱的控制要求與實現方式
電源模塊高低溫試驗的必要性與應用
高低溫試驗箱：科技研發的得力助手
如何挑選優質的高低溫沖擊試驗箱?
怎樣選擇一款合適的高低溫試驗箱？高低溫測試設備采購指南
電源模塊高低溫老化測試方法與步驟
高低溫冷熱沖擊試驗箱：嚴苛環境下的產品質量守護者
高低溫試驗箱靜態與動態的區別解析
上海伯東美國inTEST熱流儀提供socket板高低溫沖擊測試解決方案
工商網監
評論