近日，Introspect Technology宣告全球首發(fā)GDDR7顯存測試系統(tǒng)，支持密集并行的72通道、40 Gbps的PAM3 ATE-on-Bench測試。這將助力顯存及GPU生產(chǎn)商以卓越速度實(shí)現(xiàn)新設(shè)備上市。

據(jù)悉，Introspect已成功交付M5512 GDDR7顯存測試系統(tǒng)，此乃全球首個正規(guī)解決方案，專門針對JEDEC全新的JESD239圖形雙倍數(shù)據(jù)速率（GDDR7）SGRAM規(guī)范。此系統(tǒng)使得工程師與產(chǎn)品商可以輕松應(yīng)對GDDR7顯存設(shè)備的啟動、協(xié)議排查錯誤、信號特性分析以及全面的讀/寫功能壓力檢測等工作，無需借助其他工具。

固態(tài)技術(shù)協(xié)會JEDEC于本月6日發(fā)布了JESD239 GDDR7顯存標(biāo)準(zhǔn)。相較GDDR6而言，JESD239 GDDR7的帶寬增加至兩倍，每部設(shè)備最多可達(dá)到驚人的192GB/s。JESD239 GDDR7開創(chuàng)性地運(yùn)用了脈幅調(diào)制定義接口（Pulse Amplitude Modulation，PAM）來實(shí)現(xiàn)高速操作。基于PAM3的接口表現(xiàn)出色，提升了信號噪聲比（SNR），同時也提升了能源利用效率。其獨(dú)特之處在于，它能在兩個循環(huán)中傳輸3位數(shù)據(jù)，遠(yuǎn)超過傳統(tǒng)NRZ接口的兩比特表現(xiàn)，極大地提高了其每周期的數(shù)據(jù)傳輸率和整體性能。

M5512 GDDR7顯存測試系統(tǒng)作為桌面級測量儀器，具備72個高性能引腳，每個引腳均能在PAM3模式中實(shí)現(xiàn)40Gbps的交換速率。每個引腳均配有雙工電路用以完成讀寫操作，還具備完備的模擬功能組件。值得一提的是，AMD、鎂光、英偉達(dá)、三星、SK海力士相繼宣布對GDDR7標(biāo)準(zhǔn)表示支持。繼三星在英偉達(dá)GTC 2024大會上展示GDDR7顯存后，系列顯存顆粒K4VAF325ZC-SC32與K4VAF325ZC-SC28現(xiàn)已登陸三星半導(dǎo)體官網(wǎng)上線，分別可支持28Gbps/32Gbps的速率 and 16Gb的單顆容量。

SK海力士方面透露目前正在致力于研發(fā)更高速度的顯存模組，目標(biāo)設(shè)為了更為強(qiáng)大的40Gbps。業(yè)內(nèi)預(yù)測，首批采用GDDR7顯存的產(chǎn)品或?qū)⒂谀陜?nèi)問世，其中包括備受期待的英偉達(dá)RTX 50系列顯卡。