近日,杭州廣立微電子股份有限公司(以下簡稱“廣立微”)攜手芯來智融半導體科技(上海)有限公司(以下簡稱“芯來”)和上海億瑞芯電子科技有限公司(以下簡稱“億瑞芯”),建立在Design for Test(DFT)可測試性設(shè)計領(lǐng)域的戰(zhàn)略合作關(guān)系,以擴大三方合作的深度和廣度,為產(chǎn)業(yè)提供有競爭力的多元化設(shè)計方案。
強強聯(lián)合提供更優(yōu)質(zhì)解決方案
此次戰(zhàn)略合作發(fā)揮了三方各自的資源優(yōu)勢,基于廣立微的DFTEXP 可測試性設(shè)計軟件和良率診斷解決方案,強強聯(lián)合芯來智融的高性能、低功耗的RISC-V處理器IP,以及億瑞芯的DFT流程及設(shè)計解決方案,共同為客戶提供更優(yōu)質(zhì)的芯片設(shè)計IP和解決方案。
RISC-V是基于精簡指令集的CPU開放指令集架構(gòu),在信息安全、工業(yè)控制、邊緣計算、自動駕駛等領(lǐng)域,提供了開放、簡潔、模塊化、可定制、可擴展的技術(shù)優(yōu)勢,使得整個產(chǎn)業(yè)獲得了一條以更低成本更靈活自主方式進行產(chǎn)品設(shè)計的路徑,所以越來越多的芯片公司以及系統(tǒng)公司加入其應用進程。而IP核在RISC-V芯片研發(fā)過程中,則扮演著重要的角色,不僅能提高設(shè)計研發(fā)效率,使得芯片具備更好的功能和性能。
可測試性設(shè)計(DFT)給整個測試領(lǐng)域開拓了一條切實可行的途徑,目前國際上大中型IC設(shè)計公司基本上都采用了可測性設(shè)計的設(shè)計流程,DFT已經(jīng)成為芯片設(shè)計過程中的至關(guān)重要的一環(huán)。DFT可測試性設(shè)計的重要工具和流程,已成功用于驗證RISC-V IP的其中一個環(huán)節(jié)。
基于廣立微和億瑞芯共同打造的DFTEXP 平臺,在芯來 NA900_Core RISC-V IP 中完成DFT的設(shè)計實現(xiàn),并實現(xiàn) Memory 全覆蓋,Logic 部分覆蓋率可達到99.87%,達標桿工具水平。未來,三方將通過優(yōu)勢互補, 打造長期、友好、共贏的戰(zhàn)略合作伙伴關(guān)系, 共拓Design for Test(DFT)可測試性設(shè)計領(lǐng)域新藍圖。
RISC-V IP使用DFTEXP優(yōu)化DFT設(shè)計方案的結(jié)果
本次使用的產(chǎn)品是芯來900系列處理器內(nèi)核。900系列處理器包括N900(32位)、U900(32位+MMU)、NX900(64位)和UX900(64位+MMU)四個產(chǎn)品系列,其中U900、UX900帶MMU可以運行重型操作系統(tǒng),如Linux等。它非常適合對標ARM Cortex-M7、R7、R8、A35、A53、A55等內(nèi)核,可應用于AIoT邊緣計算、數(shù)據(jù)中心、網(wǎng)絡(luò)設(shè)備和基帶通信等領(lǐng)域。
關(guān)于芯來
芯來是中國大陸本土專業(yè)的RISC-V處理器內(nèi)核IP和解決方案公司,持續(xù)聚焦RISC-V處理器內(nèi)核研發(fā),賦能本土RISC-V產(chǎn)業(yè)生態(tài)。芯來科技的處理器產(chǎn)品具備高性能、低功耗和易于使用的特點,在性能、面積、功耗、成熟度、價格及開發(fā)平臺等方面具有優(yōu)勢,處于中國RISC-V嵌入式處理器研發(fā)與產(chǎn)業(yè)化的前列。
關(guān)于億瑞芯
億瑞芯是一家專注于集成電路可測試性設(shè)計(DFT)技術(shù)服務(wù)與產(chǎn)品開發(fā)的EDA公司,擁有完善的芯片DFT自動化設(shè)計流程,隸屬廣立微。其主要業(yè)務(wù)包括:各類集成電路芯片測試方案的開發(fā)定制;相關(guān)EDA工具和流程的開發(fā);自動化、智能化芯片測試系統(tǒng)的研發(fā)等。通過為業(yè)內(nèi)頭部客戶提供DFT設(shè)計服務(wù),億瑞芯對于行業(yè)核心需求、產(chǎn)品變化趨勢、最新技術(shù)要求等有著深刻的理解,并積累了豐富的客戶資源和良好的行業(yè)口碑。
關(guān)于廣立微
杭州廣立微電子股份有限公司(股票代碼:301095)是領(lǐng)先的集成電路EDA軟件與晶圓級電性測試設(shè)備供應商,公司專注于芯片成品率提升和電性測試快速監(jiān)控技術(shù),是國內(nèi)外多家大型集成電路制造與設(shè)計企業(yè)的重要合作伙伴。公司提供EDA軟件、電路IP、WAT電性測試設(shè)備以及與芯片成品率提升技術(shù)相結(jié)合的整套解決方案,在集成電路設(shè)計到量產(chǎn)的整個產(chǎn)品周期內(nèi)實現(xiàn)芯片性能、成品率、穩(wěn)定性的提升,成功案例覆蓋多個集成電路工藝節(jié)點。
審核編輯:湯梓紅
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原文標題:共譜“芯”篇章?廣立微攜手戰(zhàn)略伙伴為RISC-V IP提升DFT可測試性設(shè)計
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