導讀
復振幅測量是光場表征的必要前提,在這項工作中,課題組提出了一種僅用CCD記錄的一幅圖像來表征對稱疊加光學渦旋(SSOV)復振幅的一次測量方法。
一次測量方法基于UPOLabs HDSLM80R液晶空間光調制器搭建實驗裝置,實驗結果如圖所示,在實驗中,該課題組選擇了四個典型的SSOV(一階、低階、高階和徑向節點)來表征復振幅。
一次性測量的實驗結果。(A1-D1)SSOV的干擾強度
主要內容
OV在光學微操作、等離子體激元、旋轉探測、光學通信、引力波探測等領域有廣泛的應用。這里經常使用對稱疊加OV(SSOV)來代替單個組件。在實際應用之前需要表征SSOV中單個分量的復振幅,并測量其模式純度。它是OV的重要質量參考,決定了OV在各種應用中的性能。
測量疊加OV中單組分模式純度的實驗裝置
許多已證明的方法表征和測量SSOV的模式純度,但最通用的方法是將場分解為模式的相干和,每個模式都有特定的振幅加權和相位:即所謂的模式分解。然而,它需要使用SLM逐個掃描多個全息圖來完成測量,測量效率較低。本論文課題組提出的一種僅用CCD記錄的一幅圖像來表征對稱疊加光學渦旋(SSOV)復振幅的一次測量方法,解決了測量效率低等問題,該方法是首次報道的。該方法耗時短,可以在0.24秒內表征SSOV的復振幅,并實現模式純度的測量。由于使用要測量的SSOV的一部分作為參考光,盡管使用了相移技術,但不再需要額外的參考光束進行干涉,這在以前沒有報道過。
一次測量方法包括兩種策略。一種是用于振幅測量的環形提取策略,另一種是針對相位測量的旋轉測量策略。在概念驗證實驗中,對復振幅進行了表征,并很好地測量了模式純度,這種方法具有極好的靈活性,快速性和魯棒性,可應用于各種場合和惡劣條件。
論文簡要介紹了對全息圖進行編碼以生成SSOV的過程,我們對全息圖進行編碼,全息圖可以用于在純相位SLM上實現入射光的復數幅度調制。全息圖的編碼過程如圖所示:
全息圖編碼示意圖
為了通過一次測量獲得SSOV的復振幅,課題組提出了兩種策略。一種是用于振幅測量的環形提取策略,另一種是針對相位測量的旋轉測量策略。環提取策略的示意圖如圖(a1-a4)所示,旋轉測量策略的示意圖如圖(b1-b4)所示。
(a1-a4)環形提取策略和(b1-b4)旋轉測量策略示意圖
從理論上講,在得到四個強度分布結果后,可以反推導出所需的相位。然而,由于三角函數的引入,在實際計算中,所需的相位被包裝成 2π。我們不能通過簡單地除以2來獲得所需的結果,因此,需要相位展開技術。
計算所需相位的示意圖
為論證誤差對測量的影響,課題組從角度誤差、徑向誤差、實驗誤差三個方面進行了實驗論證。
角度誤差實驗結果如圖所示,結果表明它對模型純度的測量結果幾乎沒有影響,這充分證明了該方法的穩健性。實驗結果表明了旋轉測量策略的準確性和魯棒性。
旋轉測量策略(新策略)與相移法(舊方法)在OAM光譜測量中的比較。
徑向誤差實驗結果如圖所示,結果表明它對模型純度的測量結果幾乎沒有影響,這充分證明了該方法的穩健性。
區間d在環形提取策略中引入的徑向誤差
實驗誤差結果如圖所示,結果表明隨著曝光時間的增加,測量的模式純度略有下降。
實驗誤差對結果的影響
三個誤差導致測量的模式純度0.1%至0.01%的偏差,但總體而言,實驗結果表明,自干擾方法具有良好的魯棒性。仔細的對準和優化的誤差分析使我們能夠生成和測量模式純度高達99.99%的單個組件。
審核編輯:湯梓紅
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原文標題:一次測量以表征對稱疊加光學渦旋復振幅單分量
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