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檢測(cè)電源管理芯片電壓調(diào)整率的常見(jiàn)方法

納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 來(lái)源:納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 作者:納米軟件(系統(tǒng)集 ? 2024-01-12 15:58 ? 次閱讀

電源管理芯片電壓調(diào)整率的測(cè)試方法

測(cè)試環(huán)境:

溫度:25±2℃

濕度:60%~70%

大氣壓強(qiáng):86kPa~106kPa

測(cè)試工具:可調(diào)電源、可調(diào)電子負(fù)載、萬(wàn)用表

測(cè)試步驟:

1. 設(shè)置電子負(fù)載,使電源滿載輸出;

2. 調(diào)節(jié)電源芯片輸入端可調(diào)電源的電壓,使輸入電壓為下限值,記錄對(duì)應(yīng)的輸出電壓U1;

3. 增大輸入電壓到額定值,記錄對(duì)應(yīng)的輸出電壓U0;

4. 調(diào)節(jié)輸入電壓為上限值,記錄對(duì)應(yīng)的輸出電壓U2;

5. 電壓調(diào)整率={(U- U0)/U0}×100%,其中U為U1 和U2中相對(duì)U0變化較大的值。

電源管理芯片測(cè)試系統(tǒng)的優(yōu)勢(shì)

ATECLOUD電源管理芯片測(cè)試系統(tǒng)助力客戶解放人力,實(shí)現(xiàn)高效、快速的自動(dòng)化測(cè)試。系統(tǒng)采取B/S架構(gòu),支持互聯(lián)網(wǎng)和局域網(wǎng),實(shí)現(xiàn)隨時(shí)隨地測(cè)試。電源芯片測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試優(yōu)勢(shì)主要體現(xiàn)在:

1. 靈活使用儀器

系統(tǒng)對(duì)測(cè)試儀器進(jìn)行二次封裝,兼容2000+測(cè)試儀器型號(hào)文字指令,自定義設(shè)備指令名稱(chēng)。用戶可以任意更換設(shè)備完成測(cè)試,而且可以充分利用測(cè)試設(shè)備,自動(dòng)化測(cè)試不用捆綁固定儀器。

2. 靈活的操作流程

系統(tǒng)采取無(wú)代碼編程模式,技術(shù)人員不用學(xué)習(xí)編程也可以完成測(cè)試,程序開(kāi)發(fā)和維護(hù)不用集中在一個(gè)人身上,用戶也可以自己開(kāi)發(fā)、測(cè)試,統(tǒng)一管理測(cè)試方案和數(shù)據(jù)。同時(shí),用戶也可以不用買(mǎi)多套ATE、維護(hù)多套ATE,降低成本。

3. 靈活的數(shù)據(jù)報(bào)告

系統(tǒng)會(huì)將測(cè)試指標(biāo)編碼化,支持?jǐn)?shù)據(jù)報(bào)告導(dǎo)出,用戶也可以自定義更改報(bào)告模板。

4. 數(shù)據(jù)分析具有靈活性

系統(tǒng)內(nèi)含數(shù)據(jù)洞察功能,可以對(duì)接MES上傳數(shù)據(jù),會(huì)及時(shí)、準(zhǔn)確、多維度對(duì)測(cè)試指標(biāo)進(jìn)行自動(dòng)分析,快速分析數(shù)據(jù),查找問(wèn)題。

總而言之,用電源芯片自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電壓調(diào)整率,提高了測(cè)試效率,確保測(cè)試結(jié)果的可靠性。

審核編輯 黃宇

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