接上一篇，下篇我們將主要介紹外部因素下對測試曲線的影響，以及波紋曲線所呈現的實際含義。

一、外部因素引起的可能曲線變化

這里的外部因素指施加于光纜并傳遞至光纖的張力及側向受力，還有溫度的變化。這些都會造成曲線弓形彎曲。外部因素引起的弓形彎曲在外力作用下使曲線斜率改變。如圖所示，外力作用前曲線斜率恒定，在外力作用下可出現如下情況之一：

二、波紋曲線圖

指曲線有與脈沖頻率相似的紋狀態曲線。其產生原因有可能是受測光纖工作頻率與帶寬頻率剛好相同,此情況下, 改變測試脈寬，同時應從受測光纖的兩端進行測量。

三、實際在測試中最常見的異常曲線、原理和對策

現象：光纖未端無菲涅爾反射峰，曲線斜率、衰減正常，無法確認光纖長度。

原因：光纖未端面上比較臟或光纖端面質量差。

對策：清洗光纖未端面或重新做端面。

現象：曲線成明顯弓形，衰減嚴重偏大或偏小，無菲涅爾反射峰。

原因：量程設置錯誤（不足被測光纖長度2倍以上）。

對策：增大量程。

現象：在曲線斜率恒定的曲線中間有一個“小山峰”（背向散射劇烈增強所致）。

原因：

（1）光纖本身質量原因（小裂紋）；

（2）二次反射余波在前端面產生反射。

對策：在這種情況下改變光纖測試量程、脈寬、重新做端面，再測試如“小山峰”消失則為原因（2），如不消失則為原因（1） 。

現象：在光纖纖連接器、耦合器、熔接點處產生一個明顯的增益。。

原因：模場直徑不匹配造成的；

對策：測試衰減和接頭損耗必須雙向測試，取平均值。

現象：曲線斜率正常，光纖均勻性合格，但兩端光纖衰減系數相差很大。

原因：模場不均勻造成，一般為光纖拉絲引頭和結尾部分。

對策：測試衰減必須雙向測試，取平均值。

現象：在整根光纖衰減合格，曲線大部分斜率均勻，但在菲涅爾反射峰前沿有一小凹陷。

原因：未端幾米或幾十米光纖受側壓。

對策：復繞觀察有無變化。

現象：1310nm光纖曲線平滑，光纖衰減斜率基本不變，衰減指標略微偏高，但1550nm光纖衰減斜率增加，衰減指標偏高。

原因：束管內余長過短，光纖受拉伸。

對策：確認束管內的余長，增加束管內的余長 。

現象：1310nm光纖曲線平滑，光纖衰減斜率基本正常，衰減指標正常，但1550nm光纖衰減斜率嚴重不良，衰減指標嚴重偏高。

原因：束管內余長過長，光纖彎曲半徑過小。

對策：確認束管內的余長，減少束管內的余長。

現象：尾纖與過渡纖有部分曲線出現有規則的曲線不良，但被測光纖后半部分曲線正常，整根被測光纖衰減指標基本正常。

原因：一般是由設備本身和測試方法綜合造成的。

對策：關機，重新起動，對各個光纖接觸部分進行清潔。