10月18日下午，凝聚技術(shù)力量，共建測(cè)試生態(tài)——集成電路測(cè)試技術(shù)交流會(huì)在上海成功舉辦。來自全國(guó)各地知名專家學(xué)者、技術(shù)大咖及企業(yè)代表齊聚一堂，共同探討封裝測(cè)試技術(shù)的發(fā)展方向，共話產(chǎn)業(yè)未來，共促產(chǎn)業(yè)發(fā)展。

本次活動(dòng)在中國(guó)集成電路檢測(cè)與測(cè)試創(chuàng)新聯(lián)盟（簡(jiǎn)稱大聯(lián)盟）指導(dǎo)下，由上海北京大學(xué)微電子研究院、上海張江管理中心發(fā)展有限公司、杭州加速科技有限公司、上海盛英科技發(fā)展有限公司聯(lián)合主辦。

中國(guó)集成電路檢測(cè)與測(cè)試創(chuàng)新聯(lián)盟副理事長(zhǎng)倪昊，上海交通大學(xué)微電子學(xué)院執(zhí)行院長(zhǎng)王國(guó)興，上海交通大學(xué)微納電子學(xué)系助理教授、博士生導(dǎo)師、中國(guó)科協(xié)青托祁亮，上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司技術(shù)總監(jiān)余琨，日月新集團(tuán)中國(guó)區(qū)業(yè)務(wù)總監(jiān)包鋒，蘇試宜特(上海)檢測(cè)技術(shù)股份有限公司可靠度工程部部長(zhǎng)葛金發(fā)，中穎電子股份有限公司技術(shù)負(fù)責(zé)人凌楠，上海北大微電子研究院院長(zhǎng)助理、副研究員蔣樂樂，張江浩成總經(jīng)理助理袁銓，杭州加速科技有限公司董事長(zhǎng)鄔剛，杭州加速科技有限公司副總經(jīng)理陳永等嘉賓出席會(huì)議。

在開場(chǎng)致辭中，中國(guó)集成電路檢測(cè)與測(cè)試創(chuàng)新聯(lián)盟副理事長(zhǎng)倪昊對(duì)各位參會(huì)領(lǐng)導(dǎo)、行業(yè)專家、企業(yè)代表的到來表示熱烈歡迎。他在致辭中強(qiáng)調(diào)了集成電路封裝測(cè)試技術(shù)的發(fā)展對(duì)于推動(dòng)我國(guó)集成電路產(chǎn)業(yè)的升級(jí)具有重要意義，鼓勵(lì)與會(huì)嘉賓積極分享經(jīng)驗(yàn)和見解，共同推動(dòng)行業(yè)的發(fā)展。

上海交通大學(xué)微納電子學(xué)系助理教授、博士生導(dǎo)師、中國(guó)科協(xié)青托祁亮分享了題為《ADC低功耗設(shè)計(jì)及測(cè)試》的主題演講。他詳細(xì)介紹了ADC低功耗設(shè)計(jì)的原理和測(cè)試方法，以及如何通過技術(shù)創(chuàng)新降低功耗，提高集成電路的性能。

上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司技術(shù)總監(jiān)余琨發(fā)表了主題演講《Chiplet技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)及測(cè)試挑戰(zhàn)》。她從Chiplet技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)出發(fā)，深入探討了在Chiplet技術(shù)應(yīng)用中面臨的測(cè)試挑戰(zhàn)，并提出了相應(yīng)的解決方案。

杭州加速科技有限公司副總經(jīng)理陳永分享了題為《ATE測(cè)試速度提升的技術(shù)創(chuàng)新》的演講。從測(cè)試技術(shù)創(chuàng)新角度切入，分享了加速科技的高性價(jià)比的測(cè)試設(shè)備和高性能測(cè)試方案，為行業(yè)實(shí)現(xiàn)測(cè)試降本增效提供了新的思考路徑。

日月新集團(tuán)業(yè)務(wù)副理陳鑫豪以《車規(guī)芯片封測(cè)的零缺陷管理》為主題進(jìn)行分享。他表示車載電子非常強(qiáng)調(diào)芯片的穩(wěn)定性和長(zhǎng)期可靠性，車規(guī)芯片封測(cè)面臨的是可靠性零缺陷的挑戰(zhàn)，只有不斷提升產(chǎn)品質(zhì)量與可靠度才能建立消費(fèi)者對(duì)車廠的信心，隨后分享了車規(guī)芯片封測(cè)過程中的零缺陷管理方法和實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)。

蘇試宜特(上海)檢測(cè)技術(shù)股份有限公司可靠度工程部部長(zhǎng)葛金發(fā)圍繞《元器件檢測(cè)驗(yàn)證與解決方案》進(jìn)行主題分享，結(jié)合元器件檢測(cè)驗(yàn)證一些實(shí)際案例，提出相應(yīng)解決方案。

中穎電子股份有限公司技術(shù)負(fù)責(zé)人凌楠發(fā)表了主題演講《測(cè)試機(jī)臺(tái)和測(cè)試流程的選擇原則》。通過分析決定量產(chǎn)測(cè)試ATE和測(cè)試流程的因素及其權(quán)重，根據(jù)不同的應(yīng)用場(chǎng)景和客戶需求，給出量產(chǎn)平臺(tái)和流程選擇策略建議。

會(huì)議期間，與會(huì)嘉賓還就集成電路測(cè)試技術(shù)的最新發(fā)展、行業(yè)趨勢(shì)和未來挑戰(zhàn)等議題展開了深入討論，分享了各自的觀點(diǎn)和經(jīng)驗(yàn)。

本次研討會(huì)圓滿舉行，加速科技和專家學(xué)者，技術(shù)大咖深入交流，共同探索測(cè)試技術(shù)未來發(fā)展方向。一直以來，加速科技致力于半導(dǎo)體自主測(cè)試技術(shù)的研究與開發(fā)，從客戶的真實(shí)需求出發(fā)，持續(xù)為半導(dǎo)體企業(yè)的芯片測(cè)試帶來專業(yè)化解決方案，為客戶提高效率降低成本，全面提升企業(yè)競(jìng)爭(zhēng)力。未來，加速也將與行業(yè)伙伴攜手并進(jìn)，加強(qiáng)合作交流，共探共研，助力國(guó)產(chǎn)集成電路產(chǎn)業(yè)鏈健康發(fā)展。

審核編輯 黃宇