汽車電子EMC測(cè)試:怎么快速定位引起發(fā)射超標(biāo)的干擾源?|深圳比創(chuàng)達(dá)EMC
汽車電子EMC測(cè)試:怎么快速定位引起發(fā)射超標(biāo)的干擾源?相信不少人是有疑問(wèn)的,今天深圳市比創(chuàng)達(dá)電子科技有限公司就跟大家解答一下!
汽車電子零部件EMC測(cè)試超標(biāo)時(shí)有發(fā)生,發(fā)射測(cè)試的超標(biāo)經(jīng)常困擾著現(xiàn)場(chǎng)跟進(jìn)的工程師們,電磁發(fā)射看不見(jiàn)摸不著,怎么快速定位引起發(fā)射超標(biāo)的干擾源?
汽車電子零部件EMC發(fā)射測(cè)試包含CTE(電源線瞬態(tài)傳導(dǎo)發(fā)射),MFE(低頻磁場(chǎng)發(fā)射)CE(傳導(dǎo)發(fā)射)-AN(電壓法)和CP(電流法)以及RE(輻射發(fā)射)四項(xiàng),
下面我們來(lái)一一解析:
汽車電子發(fā)射測(cè)試項(xiàng)目
1.CTE測(cè)試超標(biāo)
CTE測(cè)試的超標(biāo)一般由內(nèi)部大功率的磁性器件引起,如電機(jī)的線圈,電磁鐵的線圈、濾波電路中的大功率電感等,這些部件在關(guān)閉的瞬間會(huì)產(chǎn)生很強(qiáng)的瞬態(tài)脈沖。
CTE測(cè)試超標(biāo)數(shù)據(jù)
2.MFE測(cè)試超標(biāo)
MFE測(cè)試的超標(biāo)一般由內(nèi)部大功率的磁性器件引起,如電機(jī)的線圈,電磁鐵的線圈、新能源部件中的大功率感性部件等,這些部件在工作時(shí)會(huì)產(chǎn)生的低頻磁場(chǎng)干擾。
MFE測(cè)試超標(biāo)數(shù)據(jù)
3.CE測(cè)試超標(biāo)
CE測(cè)試中的超標(biāo)一般由開(kāi)關(guān)電源和地處理不良引起,測(cè)試數(shù)據(jù)中的窄帶騷擾引起超標(biāo)一般為開(kāi)關(guān)電源引起,寬帶騷擾超標(biāo)一般由地處理不良引起。
開(kāi)關(guān)電源模塊引起的AN測(cè)試超標(biāo)-窄帶騷擾
地處理不良引起的CP測(cè)試超標(biāo)-寬帶騷擾
4.RE測(cè)試超標(biāo)
RE測(cè)試中的低頻超標(biāo)一般由開(kāi)關(guān)電源和地處理不良引起,高頻超標(biāo)一半為內(nèi)部時(shí)鐘或晶振的處理不良引起倍頻超標(biāo),這些信號(hào)會(huì)有很強(qiáng)的規(guī)律,很容易區(qū)分。
開(kāi)關(guān)電源模塊引起的RE測(cè)試超標(biāo)
晶振/時(shí)鐘引起的RE測(cè)試超標(biāo)
地處理不良引起的RE測(cè)試超標(biāo)
綜上所述,相信通過(guò)本文的描述,各位對(duì)汽車電子EMC測(cè)試:怎么快速定位引起發(fā)射超標(biāo)的干擾源都有一定了解了吧,有疑問(wèn)和有不懂的想了解可以隨時(shí)咨詢深圳比創(chuàng)達(dá)這邊。今天就先說(shuō)到這,下次給各位講解些別的內(nèi)容,咱們下回見(jiàn)啦!也可以關(guān)注我司wx公眾平臺(tái):深圳比創(chuàng)達(dá)EMC!
以上就是深圳市比創(chuàng)達(dá)電子科技有限公司小編給您們介紹的汽車電子EMC測(cè)試:怎么快速定位引起發(fā)射超標(biāo)的干擾源的內(nèi)容,希望大家看后有所幫助!
深圳市比創(chuàng)達(dá)電子科技有限公司成立于2012年,總部位于深圳市龍崗區(qū),成立至今一直專注于EMC電磁兼容領(lǐng)域,致力于為客戶提供最高效最專業(yè)的EMC一站式解決方案,業(yè)務(wù)范圍覆蓋EMC元件的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售及EMC設(shè)計(jì)和整改。
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