與其他主流應用相比,汽車應用對質量和可靠性有一些最嚴格的要求,這是有充分理由的。在生產中,如果缺陷水平超過百萬分之一 (ppm),即使是最簡單的組件也會關閉裝配線。在現場,缺陷或可靠性問題可能導致代價高昂的召回,并可能危及駕駛員和乘客的安全。
為了滿足日益嚴格的質量和可靠性要求,汽車系統設計人員正在轉向數字隔離器來取代光耦合器,以在混合動力汽車(HEV)電池監控和電源轉換應用中提供安全隔離。我ADI公司的耦合器數字隔離器遵循基于AEC-Q100標準的嚴格汽車認證政策。與基于化合物半導體的光耦合器不同,i耦合器數字隔離器基于標準代工CMOS半導體工藝,在汽車系統中具有良好的記錄。本文介紹ADI公司如何通過我們的高質量工業級產品服務于汽車市場,這些產品在現場具有近<>億個i耦合器隔離通道。本文詳細介紹了我們如何通過額外的資格認證、額外的檢查和更大的測試覆蓋率來增強這些產品。
資格
ADI公司在對產品進行認證時采用行業最佳實踐。認證涉及加速壽命測試,以證明過程和封裝的可靠性。測試包括在極端溫度條件下的操作條件下進行長期壓力測試,在極端濕度條件下的存儲以及熱循環等測試。為了滿足汽車系統的嚴格要求,ADI公司遵循AEC-Q100汽車方法,該方法要求在更極端的條件下進行額外的壓力測試,例如早期壽命失效(ELF)。應力后驗證雖然通常在室溫(+25°C)下進行,但也在冷(?40°C)和熱(+125°C)溫度下進行。
晶圓級探頭和組裝
當晶圓廠出柜時,ADI公司通過執行晶圓級探測將質量提升到另一個水平。探測允許對隔離器的各個組件進行詳細測試。探測還允許直接測量i耦合變壓器的電阻和質量。
探針后,晶圓被切塊并在生產線上組裝,其中包括由經過培訓的操作員進行額外檢查,以跟蹤汽車生產流程。
生產的最后步驟是高壓和參數測試。ADI公司采用三種程序使質量接近于零ppm。首先,通過在不同供電條件下添加額外的測試來擴大測試覆蓋范圍。其次,測試在不同的溫度下進行,類似于上述資格測試。第三,ADI公司采用零件平均測試(PAT)。這使我們能夠拒絕看似不錯但可能是異常值的部分。PAT的工作原理是查看參數的分布,并拒絕超出該晶圓分布范圍的部件,即使參數在限制范圍內。如下圖所示,其中三個批次各具有不同均值和點差的分布。異常值或“特立獨行”器件顯示為超出其相應的分布(按顏色顯示),但仍在生產測試和數據手冊的限制范圍內。在正常情況下,如果沒有PAT,這些零件將被運送給客戶,并且可能永遠不會出現任何缺陷;然而,在零ppm至關重要的情況下,額外的測試時間和良率損失需要這一額外步驟。
圖1.帕特描述圖。
質量體系和支持
除了生產中的所有這些額外步驟外,ADI公司在與客戶合作時還遵循最佳實踐,以確保他們為其汽車應用提供全面支持。ADI公司擁有一支由訓練有素的質量工程師組成的專門團隊,為客戶提供適當的汽車文檔和分析,包括:AEC-Q100 Rev. G文檔、DFMEA、PPAP、8D和ASIL表征。
審核編輯:郭婷
-
CMOS
+關注
關注
58文章
5735瀏覽量
236095 -
耦合器
+關注
關注
8文章
727瀏覽量
59864 -
隔離器
+關注
關注
4文章
775瀏覽量
38429 -
電池
+關注
關注
84文章
10675瀏覽量
131325
發布評論請先 登錄
相關推薦
評論