FMEDA(失效模式影響和診斷分析)利用一系列安全機(jī)制來評(píng)估安全架構(gòu),并計(jì)算系統(tǒng)的安全性能。ISO 26262 規(guī)范第 5 部分規(guī)定,硬件架構(gòu)需要根據(jù)故障處理要求進(jìn)行評(píng)估。它要求通過一套客觀的指標(biāo)對(duì)隨機(jī)硬件失效的概率進(jìn)行嚴(yán)格的分析和量化。
如果有任何架構(gòu)指標(biāo)未能滿足為產(chǎn)品定義的汽車安全完整性等級(jí) (ASIL) 標(biāo)準(zhǔn),設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)將被強(qiáng)制要求重新評(píng)估組件的安全概念,改進(jìn)現(xiàn)有的安全機(jī)制,并在必要時(shí)引入新的安全機(jī)制。
為了改善診斷覆蓋率,一種實(shí)用的方法是在設(shè)計(jì)中納入一系列安全機(jī)制,以便能夠增加檢測到的故障數(shù)量和類型。最好在寄存器傳輸級(jí)進(jìn)行此操作,因?yàn)樵诖思?jí)別可以高效地執(zhí)行功能驗(yàn)證。該流程可由以下主要步驟構(gòu)成:
? 探索設(shè)計(jì)中需要改善故障檢測的部分
? 引入安全機(jī)制,針對(duì) RTL 結(jié)構(gòu)進(jìn)行適當(dāng)?shù)臋?quán)衡
? 使用時(shí)序邏輯等價(jià)性檢查 (SLEC) 驗(yàn)證設(shè)計(jì)變化
? 使用基于形式化的方法執(zhí)行注錯(cuò),以測量診斷覆蓋率
▲使用 SLEC 驗(yàn)證雙重模塊化冗余的流程
-
RTL
+關(guān)注
關(guān)注
1文章
385瀏覽量
59950 -
asil
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
47瀏覽量
9291
原文標(biāo)題:白皮書下載 | 安全機(jī)制的插入和驗(yàn)證
文章出處:【微信號(hào):Mentor明導(dǎo),微信公眾號(hào):西門子EDA】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
相關(guān)推薦
EBSD失效分析策略
![EBSD<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>策略](https://file1.elecfans.com/web3/M00/03/8A/wKgZPGdqKpeAbWe7AACmxKLt4cY411.png)
材料失效分析方法匯總
![材料<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>方法匯總](https://file1.elecfans.com/web3/M00/00/D7/wKgZPGdOhmKAfzqlAAD7IYEpgE0385.png)
電阻失效模式總結(jié)
![電阻<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>模式</b>總結(jié)](https://file1.elecfans.com/web2/M00/0B/3C/wKgaomcdoteAYuLQAAKGbnhrYow756.png)
EMB系統(tǒng)功能安全分析(3)
![EMB系統(tǒng)功能<b class='flag-5'>安全</b><b class='flag-5'>分析</b>(3)](https://file1.elecfans.com/web1/M00/F3/05/wKgaoWcPXcWAc9TZAAApfTD_UM0958.jpg)
瓷介電容器失效模式分析方法
簡述繼電器觸點(diǎn)失效
晶閘管的失效模式與機(jī)理
連接器的三類失效模式
IGBT器件失效模式的影響分析
![IGBT器件<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>模式</b>的影響<b class='flag-5'>分析</b>](https://file1.elecfans.com/web2/M00/CC/80/wKgZomYgkkqAZq7FAAAGdK-cCcQ776.png)
評(píng)論