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應(yīng)用碳化硅襯底材料的三代半導(dǎo)體的性能對(duì)比

創(chuàng)易棧 ? 來(lái)源:創(chuàng)易棧 ? 作者:創(chuàng)易棧 ? 2022-10-19 15:37 ? 次閱讀

用碳化硅作襯底的功率器件與硅基功率器件相比較,其電氣性能更優(yōu)越,主要有以下幾個(gè)方面:

01、高壓

碳化硅擊穿電場(chǎng)強(qiáng)度比硅高10倍以上,使碳化硅器件具有耐高壓性能,其性能明顯優(yōu)于相同規(guī)格的硅器件。

02、耐高溫

碳化硅相較硅具有較高熱導(dǎo)率使器件散熱更加方便且極限工作的溫度也更高。

耐高溫特性能夠在減少對(duì)于散熱系統(tǒng)影響的同時(shí)帶來(lái)功率密度顯著地提升,也能夠讓終端產(chǎn)品能夠更輕量、更小型化。

03、低能量損耗

碳化硅的電子漂移速率是硅的兩倍,使碳化硅器件導(dǎo)通電阻極低,導(dǎo)通損耗也較小;

在禁帶寬度方面,碳化硅是硅的三倍,這能使碳化硅器件的泄漏電流比硅器件顯著地減小,進(jìn)而減小了功率損耗;

碳化硅器件關(guān)斷時(shí)不會(huì)出現(xiàn)電流拖尾,開(kāi)關(guān)損耗較小,顯著提高了實(shí)際使用中開(kāi)關(guān)頻率。

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PS:同規(guī)格的碳化硅基MOSFET與硅基MOSFET相比,導(dǎo)通電阻下降到1/200、尺寸縮小到1/10;

同規(guī)格采用碳化硅基MOSFET逆變器與采用硅基IGBT逆變器比較,總能量損失在四分之一以內(nèi)。

也正因?yàn)樘蓟杵骷哂械囊陨蟽?yōu)越特性,它能夠滿足于電力電子技術(shù)在高溫,高功率,高壓,高頻以及抗輻射等苛刻工況下提出的全新需求,從而成為半導(dǎo)體材料領(lǐng)域最具前景的材料之一。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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原文標(biāo)題:三代半導(dǎo)體(Si、 GaAs、SiC、 GaN )襯底材料指標(biāo)對(duì)比

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