ATECLOUD智能云測試平臺是由納米軟件自主研發(fā)的文字化語言編程軟件平臺,可用于上位機軟件開發(fā),一拖即用,相較于傳統(tǒng)的代碼編程、LabVIEW軟件的圖形化編程,平臺封裝了算子、各類儀器指令、數(shù)據(jù)洞察,讓不懂編程的人也可以快速上手。平臺具有超強大功能,界面清爽流暢,操作十分簡單,輕松編寫語言。平臺為大家提供了非常不錯的程序開發(fā)環(huán)境,此軟件有著極為強大的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng),可以幫助大家更快的集成各類數(shù)據(jù)并進行分析,兼容性也非常強,是開發(fā)測量或控制系統(tǒng)的理想選擇。
ATECLOUD去LabVIEW化,無需編程,15分鐘快速搭建自動化測試;
自定義報告模板,可實現(xiàn)快速建立、快速修改;
充分利用大數(shù)據(jù)、云計算,發(fā)揮數(shù)據(jù)的無限價值;
ATECLOUD-APP在任何時間任何,地點皆能滿足您的遠程測試要求;
數(shù)據(jù)可視化為您提供第一手的測試數(shù)據(jù),實時分析實時展示。
使用納米軟件ATECLOUD智能云測試平臺,您可以快速獲得來自各種測量硬件的真實世界數(shù)據(jù),
作為測量和自動化應用程序的一部分,它使得控制任何測量硬件來收集數(shù)據(jù)成為可能。
ATECLOUD智能云測試平臺可用于儀器程控、電子元器件自動測試系統(tǒng)、多通道數(shù)據(jù)采集測試系統(tǒng)、
電源模塊自動測試系統(tǒng)、LCR自動測試系統(tǒng)、其他根據(jù)用戶需求非標定制的測試項目方面。
應用場景
- 將被測產(chǎn)品及測試儀器進行測試環(huán)境搭建
- 在ATECLOUD平臺進行測試方案編輯
- ATECLOUD平臺自動測試并保存測試數(shù)據(jù)
- ATECLOUD平臺的豐富算法模型,高質(zhì)量的分析報告,挖掘數(shù)據(jù)深度價值
產(chǎn)品特點
硬件結(jié)構(gòu)
軟件架構(gòu)
- 自主研發(fā),多層級數(shù)據(jù)存儲
- 大數(shù)據(jù)系統(tǒng)
- 試驗運行全面控制
- 獨立賬號安全可靠
- ATE-GATEWAY
- ATE-GATEWAY提高數(shù)據(jù)采集的吞吐量,滿足時效性要求
- ATEBOX
- ATEBOX與各類設(shè)備快速對接;ATEBOX作為總控單元與硬件層的中間環(huán)節(jié),完成與各類標準設(shè)備、非標設(shè)備或PLC的快速對接。
使用流程
數(shù)據(jù)分析
- 實時監(jiān)控
- 電子看板
- 預警提醒
- 測試管理
- 案例展示
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