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一種設(shè)計(jì)和制備無襯底Au/SiNx/Au超構(gòu)薄膜作為MFPA的太赫茲吸收體的方法

MEMS ? 來源:麥姆斯咨詢 ? 作者:麥姆斯咨詢 ? 2022-07-10 15:15 ? 次閱讀

太赫茲技術(shù)因其獨(dú)特的優(yōu)勢而備受關(guān)注,其優(yōu)勢包括太赫茲波可穿透非偏振物體的強(qiáng)大能力,以及太赫茲光譜區(qū)域可表征眾多材料和分子的特征吸收帶。另外,太赫茲波對(duì)被探測人員和物體的傷害較小。與X射線等傳統(tǒng)探測方法相比,這一特點(diǎn)使太赫茲技術(shù)具有顯著優(yōu)勢。此外,太赫茲探測器還通常用于探測隱蔽物體以及無創(chuàng)醫(yī)學(xué)成像等應(yīng)用。而缺乏靈敏的太赫茲探測器是阻礙太赫茲技術(shù)發(fā)展的主要問題之一。

超構(gòu)材料(Metamaterials)是由亞波長微結(jié)構(gòu)(如超構(gòu)原子)組成的人工復(fù)合材料,具有可調(diào)整的電磁(EM)特性。超構(gòu)材料吸收體在眾多電磁波譜中都顯示出了巨大的應(yīng)用潛力,因?yàn)樗鼈兛梢哉{(diào)整頻率相關(guān)的吸收特性。特別是在太赫茲區(qū)域,通過調(diào)整材料的長度、厚度及空間等結(jié)構(gòu)參數(shù),可以顯著增強(qiáng)太赫茲能量的信號(hào)檢測。因此,超構(gòu)材料為解決上述問題提供了極具前景的平臺(tái)。

將超構(gòu)薄膜吸收體與雙材料懸臂梁相結(jié)合,可以增強(qiáng)對(duì)太赫茲能量的吸收,并可將所吸收的能量轉(zhuǎn)化為生物材料懸臂梁的形變。該探測單元可排成陣列從而形成超構(gòu)材料焦平面陣列(MFPA),當(dāng)與光學(xué)讀出系統(tǒng)結(jié)合后,該陣列可用于太赫茲實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)。

據(jù)麥姆斯咨詢報(bào)道,近日,北京理工大學(xué)趙清教授課題組在IEEE Photonics Journal發(fā)表了以“Design and Fabrication of Substrate-free Au/SiNx/Au Metafilm for THz Sensing Application”為主題的研究論文。該研究論文通訊作者為北京理工大學(xué)、北京量子信息科學(xué)研究院趙清教授,主要從事量子物理與數(shù)學(xué)、信息科學(xué)的交叉研究工作。

這項(xiàng)研究論文報(bào)道了一種設(shè)計(jì)和制備無襯底Au/SiNx/Au超構(gòu)薄膜作為MFPA的太赫茲吸收體的方法。研究采用了有限積分法模擬和新的顯函數(shù)來研究其吸收特性。另外,研究人員利用MEMS技術(shù)制備了無襯底結(jié)構(gòu)。同時(shí),還采用太赫茲時(shí)域光譜(THz-TDS)系統(tǒng)測量了MFPA頻率相關(guān)的吸收特性。研究結(jié)果表明,該Au/SiNx/Au超構(gòu)薄膜設(shè)計(jì)可以提高吸收率并實(shí)現(xiàn)頻率選擇。另外,該超構(gòu)薄膜在光學(xué)讀出太赫茲實(shí)時(shí)成像、雙波長分光光度法和多功能器件中具有潛在的傳感應(yīng)用價(jià)值。

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(a)MFPA像素結(jié)構(gòu)的俯視圖;(b)MFPA像素結(jié)構(gòu)的橫截面視圖。

該器件中的像素結(jié)構(gòu)由兩個(gè)懸臂梁和一個(gè)Au/SiNx/Au超構(gòu)薄膜吸收體組成,如上圖所示。像素結(jié)構(gòu)尺寸為150 μm × 150 μm。其懸臂梁是兩個(gè)折疊的SiNx/Au基生物材料梁,懸臂梁寬度為2.5 μm。超構(gòu)薄膜吸收體由六個(gè)方形貼片和加固物組成。方形貼片尺寸為40 μm × 40 μm,為其頻率選擇表面(FSS)結(jié)構(gòu);加固物可以提高吸收體強(qiáng)度。在像素結(jié)構(gòu)的橫截面視圖中,從下到上共有四層結(jié)構(gòu):第一層為SiNx層,用作結(jié)構(gòu)層,包含懸臂梁和板;第二層為Au層,用作太赫茲輻射的反射鏡;第三層為SiNx層,用作太赫茲輻射的吸收層;第四層為Au層,用于形成FSS結(jié)構(gòu)。吸收體采用了金屬-絕緣體-金屬(MIM)結(jié)構(gòu)。

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(a)MEMS MFPA制備流程圖;(b)在4英寸硅片上制備4顆MFPA的照片;(c)MFPA像素結(jié)構(gòu)的SEM圖;(d)MFPA像素結(jié)構(gòu)的3D形貌。

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用于測量反射率和透過率的THz-TDS原理圖

這項(xiàng)研究設(shè)計(jì)并制備了一種集成了Au/SiNx/Au超構(gòu)薄膜吸收體陣列和雙材料懸臂梁的100 x 100太赫茲MFPA,并對(duì)其進(jìn)行了表征和理論模擬。該MFPA像素尺寸為150 μm × 150 μm,具有無襯底結(jié)構(gòu)。利用THz-TDS進(jìn)行測量,具有極高的吸收率。測量結(jié)果顯示,研究中制備的MFPA在1.36THz處可達(dá)到98.7%的諧振吸收率,與理論結(jié)果一致。通過模擬研究,采用修正的光致發(fā)光(PL)強(qiáng)度模型和非對(duì)稱Asym2sig模型來研究太赫茲吸收特性。從理論上分析了吸收率與SiNx薄膜厚度和方形貼片尺寸之間的關(guān)系。研究結(jié)果表明,該無襯底太赫茲MFPA及其分析方法可廣泛應(yīng)用于太赫茲技術(shù)中,如雙波長分光光度法和太赫茲成像等。

這項(xiàng)研究工作獲得國家自然科學(xué)基金(61874137,61306141)的支持。該研究第一作者為北京理工大學(xué)Zhigang Li。

論文鏈接:
https://ieeexplore.ieee.org/document/9796544

審核編輯 :李倩

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原文標(biāo)題:利用無襯底超構(gòu)薄膜吸收體,顯著提升太赫茲波的吸收率

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