Moku:Pro 為軟件定義精密測試測量儀器帶來了突破性的創(chuàng)新，它兼具了性能和儀器多功能性，提供高度整合的測試測量與控制一體化解決方案。 Moku:Pro 硬件采用高性能的 Xilinx Ultrascale+ FPGA 與高帶寬模擬前端，并結(jié)合了強大的網(wǎng)絡(luò)連接和存儲能力。通過軟件定義實現(xiàn)多種測試測量功能從而支持高速數(shù)據(jù)采集、處理和可視化、波形生成和實時控制等應(yīng)用場景。 此外，Moku:Pro 前端設(shè)計還創(chuàng)造性地采用了先進的混合信號技術(shù)，執(zhí)行來自多個 ADC 的頻率相關(guān)信號混合，從而實現(xiàn)從聲頻到射頻的卓越噪聲性能。

9個專業(yè)儀器功能

? 任意波形發(fā)生器

? 數(shù)據(jù)記錄器

? 頻率響應(yīng)分析儀

? 鎖相放大器

? 示波器

? 相位表

? PID控制器

? 頻譜分析儀

? 波形發(fā)生器

硬件亮點

? 卓越的低頻噪聲性能：全輸入帶寬下的噪聲500 μV RMS

? 120 GB 高速 SSD

? 板載高穩(wěn)定時鐘 0.3 ppm

? 輸入到輸出延遲 < 650 ns

技術(shù)規(guī)格

四個模擬輸入

? 采樣率5 GSa/s（單通道），1.25GSa/s（四通道）

? 10位和18位ADC，具備隨頻率變化的信號混合功能

? 可選 300 MHz 或 600 MHz 模擬帶寬

? AC 或 DC耦合，50Ω 或 1MΩ 輸入阻抗

? 400 mVpp、4 Vpp 或 40 Vpp 輸入范圍

四個模擬輸出

? 16位，1.25 GSa/s DACs

? 輸出 ± 1 V 高達 500 MHz，± 5 V 高達100 MHz

額外的I/O 端口

? 專用的觸發(fā)輸入

? 10 MHz 同步輸入和輸出

? 板載 Wi-Fi、以太網(wǎng)和 USB-C

? 120 GB 高速 SSD

應(yīng)用軟件和開發(fā)工具

? 強大的多點觸控用戶操作界面

? 支持 Python 和 MATLAB API

典型應(yīng)用

? 高速數(shù)據(jù)采集

? 自動化測試序列

? 系統(tǒng)原型設(shè)計和仿真

? 閉環(huán)控制設(shè)計

? 光學(xué)計量和光譜學(xué)

? 用于光學(xué)、成像和其他定制系統(tǒng)

? 量子計算

高速數(shù)據(jù)采集

Moku:Pro兼具了高速數(shù)據(jù)采集設(shè)計，數(shù)據(jù)記錄器能夠?qū)⑺膫€模擬輸入的數(shù)據(jù)連續(xù)寫入120GB的高速固態(tài)硬盤，每個通道的速度高達10MSa/s。使用示波器可以以高達5 GSa/s的速度拍攝較短的快照。除了直接的模擬輸入外，用戶還可以在 PID 控制器、鎖相放大器和相位表等儀器中通過內(nèi)置的探測點直接調(diào)用示波器和數(shù)據(jù)記錄器的功能。板載數(shù)據(jù)記錄能最大限度地將額外的數(shù)據(jù)采集設(shè)備所帶來的成本和噪音降到最低。

600 MHz 鎖相放大器

Moku:Pro 數(shù)字鎖相放大器支持從 DC 到 600 MHz 的雙相解調(diào) (XY/Rθ)，動態(tài)儲備優(yōu)于120 dB。本機振蕩器可由其板載波形發(fā)生器產(chǎn)生或從外部設(shè)備輸入。四個高速模擬輸出可分配給輸出 X、Y、R、θ 和本地振蕩器以驅(qū)動外部設(shè)備。混合 ADC 技術(shù)可在整個 600MHz 輸入帶寬內(nèi)提供低本底噪聲。用戶可以通過內(nèi)置探測點在數(shù)字信號處理各個階段監(jiān)測和記錄信號。內(nèi)置可選用 PID 控制器用于閉環(huán)控制和鎖相環(huán)應(yīng)用。借助多功能 I/O 選項和 API 支持，您可以將鎖相放大器變成儀器的中央控制中心。

混合型ADC

Moku:Pro 配備了一個 10 MSa/s、18位的 ADC和一個高速 5 GSa/s的10位 ADC。借助強大的FPGA，該系統(tǒng)結(jié)合了來自 ADC 的信息，在整個600 MHz 帶寬內(nèi)提供行業(yè)領(lǐng)先的低輸入噪聲性能。我們的創(chuàng)新混合算法確保在所有傅里葉頻率上優(yōu)化信噪比，而不影響延遲或信號帶寬。

Moku:Pro多儀器并行模式

通過Moku:Pro 多儀器并行模式用戶可將儀器放置在四個虛擬“插槽”中，動態(tài)添加或刪除 Moku:Pro 儀器到任何插槽。每個插槽都能夠連接至模擬輸入和輸出，讓您可以在單個 Moku:Pro 上運行整套儀器。在此模式下運行的儀器可通過低延遲、實時 30 Gb/s 信號路徑相互連接以構(gòu)建復(fù)雜的信號處理流程。模擬輸入、模擬輸出和相鄰儀器的連接能夠?qū)崿F(xiàn)運行時配置。結(jié)合 Moku 云編譯和多儀器并行模式，Moku:Pro 重新定義了測試儀器的靈活性。

可配置儀器

? 任意波形發(fā)生器

? 頻率響應(yīng)分析儀

? 鎖相放大器

? 示波器

? PID控制器

? 頻譜分析儀

? 波形發(fā)生器

硬件亮點

? 卓越的低頻噪聲性能：全輸入帶寬下的噪聲500 μV RMS

? 板載高穩(wěn)定時鐘 0.3 ppm

? 輸入到輸出延遲 < 650 ns

模擬前端

四個模擬輸入

? 10位和18位ADC，具備隨頻率變化的信號混合功能

? 1.25 GSa/s 采樣率

? 輸入噪聲: 30 nV/√Hz @ 100 Hz

? 可選 300 MHz 或 600 MHz 模擬帶寬

? AC 或 DC耦合，50Ω 或 1MΩ 輸入阻抗

? 400 mVpp、4 Vpp 或 40 Vpp 輸入范圍

四個模擬輸出

? 16位，1.25 GSa/s DACs

? 輸出2 Vpp 高達 500 MHz, 10 Vpp 高達100 MHz

典型應(yīng)用

? 自動化測試序列

? 系統(tǒng)原型設(shè)計和仿真

? 閉環(huán)控制設(shè)計

? 光學(xué)計量學(xué)和光譜學(xué)

? 光學(xué)、成像和其他定制系統(tǒng)控制中心

? 量子計算

應(yīng)用亮點低延遲閉環(huán)控制設(shè)計和表征

Moku:Pro 的 PID 控制器提供亞微秒的輸入至輸出延遲，非常適合高速閉環(huán)控制器應(yīng)用。通過多儀器并行模式，可以實時PID控制器和頻率響應(yīng)分析儀并行以觀察和測量控制器的傳遞函數(shù)和脈沖響應(yīng)。還可以使用示波器和頻譜分析儀在時域和頻域中測量系統(tǒng)響應(yīng)。控制器中的調(diào)整都會實時反映在監(jiān)控儀器中。

生成任意調(diào)制的信號

通過結(jié)合任意波形發(fā)生器與多個波形發(fā)生器，Moku:Pro能夠輸出高穩(wěn)定性的復(fù)雜波形。任意波形可以連接至波形發(fā)生器的輸入端作為調(diào)制源。頻率、相位和幅度調(diào)制也可以同時添加到信號中。這消除了查找表計算步驟并能更好的控制調(diào)制和輸出信號。示波器或頻譜分析儀可添加到其它插槽中測量信號。

多諧波鎖相放大器

Moku:Pro的多儀器并行模式能夠同時運行高達四個鎖相放大器。每一個鎖相放大器能在基波、二次或更高次諧波進行解調(diào)。測量出的 R/θ 或 X/Y 分量也可以在最終儀器插槽中的示波器中進行比較或輸出至模擬輸出端口。

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原文標題：【產(chǎn)品介紹】Moku:Pro 終極性能測量與控制解決方案

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審核編輯:湯梓紅