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M.2_KEY_B/E測試夾具應(yīng)用場景

高頻高速研究中心 ? 來源:信號完整性與電源完整性 ? 作者:信號完整性與電源 ? 2021-11-19 10:23 ? 次閱讀

1.應(yīng)用場景

支持M.2接口基板測試(M.2-Based Board Test)。

2.主要特點

· 阻抗一致性優(yōu)越,差分阻抗85Ω±%5。

· 極低的插入損耗。

· 各通道skew差異小于±2ps。

· SI性能優(yōu)化至16Gbps,符合PCIE4.0,SATA3.0協(xié)議。

· 高性能SMP連接器,最大帶寬支持到60Ghz。

3.產(chǎn)品描述

M.2_KEY-B/E測試夾具采用標(biāo)準(zhǔn)M.2_KEEY_B/E金手指接口,支持PCIE1.0~4.0和SATA1.0~SATA3.0數(shù)據(jù)測試,采用SMP高速連接器與儀器連接,單塊板卡機械尺寸為標(biāo)準(zhǔn)M.2板卡尺寸,22mm*80mm。

4.產(chǎn)品設(shè)計

M.2_KEY-B/E測試夾具板卡是測試主板的,代替M.2接口的板卡插在主板上測試信號

M.2_KEY-B/E單板全部走微帶線,無打孔,阻抗設(shè)計控制差分85歐姆,包含2倍校準(zhǔn)線。采用高速SMP接頭與儀器連接(最大帶寬支持60Ghz)。

5.產(chǎn)品測試

測試儀器:KEYSIGHT 網(wǎng)絡(luò)分析儀 E5071C(300khz—20Ghz)

通過同軸線纜和SMP轉(zhuǎn)接線連接單板校準(zhǔn)線,測試單板實際差分阻抗

經(jīng)網(wǎng)絡(luò)分析儀測試,單板PCIE信號線差分阻抗控制在85±5Ω

通過過同軸線纜和SMP轉(zhuǎn)接線連接單板校準(zhǔn)線,測試單板插入損耗。

經(jīng)測試,20Ghz帶寬內(nèi)無諧振,測試結(jié)果為走線雙倍線長的插入損耗,大概是-5.9~-6.2db,我們單根SMA轉(zhuǎn)SMP線纜損耗是-1db,所以線纜總損耗是-2~-2.1db(8Ghz)

責(zé)任編輯:haq

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原文標(biāo)題:M.2_KEY_B/E 測試夾具

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