9-16

9.上升時間測試

一、目的:

測試S.M.P.S. POWER ON 時,各組輸出從10% ~ 90% POINT 之上升時間(常規(guī)定義為≤20mS).

二. 使用儀器設備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器

三. 測試條件:

四、測試方法:

(1). 依規(guī)格設定AC VOLTAGE, FREQUENCY AND LOAD .

(2). SCOPE 的CH1 接Vo, 并設為TRIGGER SOURCE, LEVEL 設定在Vo 的60% ~ 80% 較為妥當, TRIGGER SLOPE 設定在"+",

TIME/DIV 和VOLTS/DIV 則視輸出電壓情況而定.

(3). 用CURSOR 中"TIME", 量測待測品各組輸出從電壓10% 至90% 之上升時間.

五. 注意事項:

測試前先將待測品處于冷機狀態(tài),待BUCK Cap. 電荷放盡后進行測試.

10. 下降時間測試

一、目的:

測試S.M.P.S. POWER ON 時,各組輸出從90% ~ 10% POINT 之下降時間(常規(guī)定義≥5mS);

二. 使用儀器設備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器

三. 測試條件:

四、測試方法:

(1). 依規(guī)格設定AC VOLTAGE, FREQUENCY AND LOAD.

(2). SCOPE 的CH1 接Vo, 并設為TRIGGER SOURCE, LEVEL 設定在Vo 的60% ~ 80% 較為妥當, TRIGGER SLOPE 設定在"-",TIME/DIV 和VOLTS/DIV 則視輸出電壓情況而定;

(3). 用CURSOR 中"TIME", 量測待測品各組輸出從電壓90% 至10% 之下降時間.

五. 注意事項:

測試前先將待測品熱機, 待其輸出電壓穩(wěn)定后再進行測試.

11. 開機延遲時間測試

一、目的:

測試S.M.P.S. POWER ON 時, 輸入電壓AC LINE 與輸出之時間差(常規(guī)定義為≤3000mS).

二. 使用儀器設備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器

三. 測試條件:

四、測試方法:

(1). 測試時依規(guī)格設定AC LINE, FREQUENCY 和輸出負載(一般LOW LINE & MAX. LOAD時間最長).

(2). OSCILLOSCOPE 的CH1 接Vo 為TRIGGER SOURCE, CH2 接AC LINE.

(3). TRIGGER LEVEL 設定在Vo 的60% ~ 80% 間較為妥當, TRIGGER SLOPE 設定在"+",VOLTS/DIV 和TIME/DIV 則視實際情況而定.

(4). 用CURSOR 中"TIME", 量測AC ON 至Vo LOW LIMIT 之時間差.

五. 注意事項:

(1). 測試前先將待測品處于冷機狀態(tài), 待BULK Cap. 電荷放盡后進行測試;

(2). 示波器(OSCILLOSCOPE) 需使用隔離變壓器.

12. 關機維持時間測試

一、目的:

測試S.M.P.S. POWER OFF 時, 輸入電壓AC LINE 與輸出OUTPUT 之時間差(常規(guī)定義≥10mS/115Vac & ≥20mS/230Vac );

二. 使用儀器設備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器

三. 測試條件:

四、測試方法:

(1). 測試時依規(guī)格設定AC LINE, FREQUENCY 和輸出負載.

(2). OSCILLOSCOPE 的CH1 接Vo 為TRIGGER SOURCE, CH2 接ACLINE.

(3). TRIGGER LEVEL 設定在Vo 的60% ~ 80% 間較為妥當, TRIGGER SLOPE 設定在“-”, VOLTS/DIV 和TIME/DIV 則視實際情況而定.

(4). 用CURSOR 中"TIME", 量測AC ON 至Vo LOW LIMIT 之時間差.

五. 注意事項:

(1). 測試前先將待測品熱機, 待其輸出電壓穩(wěn)定后再進行測試;

(2). 示波器(OSCILLOSCOPE) 需使用隔離變壓器.

13. 輸出過沖幅度測試

一、目的:

測試S.M.P.S. POWER ON 時, 輸出DC OUTPUT 過沖幅度變化量(常規(guī)定義為≤10%).

二. 使用儀器設備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

三. 測試條件:

依SPEC. 所要求,輸入電壓范圍與輸出負載(Min. – Max. load).

四、測試方法:

(1). 測試時依規(guī)格設定AC LINE, FREQUENCY 和輸出負載.

(2). OSCILLOSCOPE 的CH1 接Vo 為TRIGGER SOURCE;

(3). TRIGGER LEVEL 設定在Vo 的60% ~ 80% 間較為妥當, TRIGGER SLOPE 設定在“+” 和“-”, VOLTS/DIV 和TIME/DIV 則視實際情況而定.

(4). 用CURSOR 中"VOLT", 量測待測品輸出過沖點與穩(wěn)定值之關系.

(5). ON / OFF 各做十次, 過沖幅度%=△V / Vo *100%;

五、注意事項:

產品在CC與CR模式都需滿足規(guī)格要求.

14. 輸出暫態(tài)響應測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 輸出負載快速變化時, 其輸出電壓跟隨變動之穩(wěn)定性(規(guī)格定義電壓最大與最小值不超過輸出規(guī)格的±10%).

二. 使用儀器設備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

三. 測試條件:

依SPEC.所規(guī)定: 輸入電壓AC LINE, 變化的負載LOAD, 頻率及升降斜率SR/F 值.

四、測試方法:

(1). 測試時設定好待測品輸入電壓AC LINE 和頻率FREQUENCY.

(2). 測試時設定好待測品輸出條件: 變化負載和變化頻率及升降斜率.

(3). OSCILLOSCOPE CH1 接到OUTPUT 偵測點, 量其電壓之變化.

(4). CH2 接CURRENT PROBE 測試輸出電流, 作為OSCILLOSCOPE 之TRIGGER SOURCE.

(5). TRIGGER MODE設定為"AUTO.".

五、注意事項:

(1). 注意使用CURRENT PROBE 時,每改變VOLTS/DIV 刻度PROBE 皆須歸零ZERO,

(2). 須經(jīng)常對CURRENT PROBE 進行消磁DEGAUSS 和歸零ZERO.

15. 過流保護測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 輸出電流過高時是否保護, 保護點是否在規(guī)格要求內, 及是否會對S.M.P.S. 造成損傷(常規(guī)定義過流點為輸出額定負

載的1.2-2.5倍/ CV模式產品初外).

二. 使用儀器設備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

三. 測試條件:

依SPEC. 所規(guī)定: 輸入電壓AC LINE 和電子負載.

四、測試方法:

(1). 將待測組輸出負載設在MAX. LOAD.

(2). 以一定的斜率(通常為1.0A/S) 遞增, 加大輸出電流直至電源保護, 當保護后, 將所加大之電流值遞減, 視其輸出是否會自動RECOVERY.

(3). OSCILLOSCOPE CH2 接上CURRENT PROBE, 以PROBE 檢測輸出電流.

(4). CH1 則接到待測輸出電壓, 作為OSCILLOSCOPE 之TRIGGER SOURCE.

(5). TRIGGER SLOPE 設定為"-", TRIGGER MODE 設定為"AUTO", TIME/DIV 視情況而定.

五、注意事項:

(1). 注意使用CURRENT PROBE 時,每改變VOLTS/DIV 刻度PROBE 皆須歸零ZERO,

(2). 須經(jīng)常對CURRENT PROBE 進行消磁DEGAUSS 和歸零ZERO.

(3). 產品不能有安全危險產生.

16. 短路保護測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 輸出端在開機前或在工作中短路時, 產品是否有保護功能.

二. 使用儀器設備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

(4). 低阻抗短路夾

三. 測試條件:

依SPEC. 所規(guī)定: 輸入電壓AC LINE 和負載LOAD 值和低阻抗短路夾.

四、測試方法:

(1). 依規(guī)格設定測試條件: 輸入電壓AC LINE 和負載LOAD 值(一般為MAX.LOAD).

(2). 各組輸出相互短路或對地短路, 偵測輸出特性.

(3). 開機后短路TURN ON THEN SHORT & 短路后開機SHORT THEN TURN ON 各十次.

五、注意事項:

(1).當SHORT CIRCUIT 排除之后, 檢測待測品是否自動恢復或需重新啟動(視SPEC 要求),并測試產品是否正常或有無零件損壞(產品要求應正常).

(2). 產品不能有安全危險產生.

17-24

17. 過壓保護測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 輸出電壓過高時是否保護, 保護點是否在規(guī)格要求內, 及是否會對S.M.P.S. 造成損傷(常規(guī)定義:Vout<12V,過壓保護點為1.8倍輸出電壓; Vout≥12V,.過壓保護點為1.5倍輸出電壓).

二. 使用儀器設備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

(4). DC SOURCE / 直流電源;

三. 測試條件:

依SPEC. 所規(guī)定: 輸入電壓AC LINE 和負載LOAD 值.

四、測試方法:

(1). 測試方式一: 拿掉待測品回授FEEDBACK, 找出過壓保護OVP 點,

(2). 測試方式二: 外加一可變電壓于操作待測品的輸出, 緩慢增大電壓值, 找出過壓保護OVP 點,

(3). OSCILLOSCOPE CH1 接到OVP 偵測點, 測量其電壓之變化.

(4). CH2 則接到其它一組輸出電壓, 作為OSCILLOSCOPE 之TRIGGER SOURCE.

(5). TRIGGER SLOPE 設定為"-", TRIGGER MODE 設定為"NORMAL".

五、注意事項:

產品不能有安全危險產生.

18. 重輕載變化測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 的輸出負載在重輕載切換時對輸出電壓的影響(規(guī)格定義電壓最大與最小值不超過輸出規(guī)格的±10%).

二. 使用儀器設備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

三. 測試條件:

依SPEC. 所規(guī)定: 輸入電壓AC LINE 和負載LOAD(MIN. AND MAX.) 值.

四、測試方法:

(1). 依規(guī)格設定AC VOLTAGE, FREQUENCY AND LOAD (MAX. LOAD 和MIN. LOAD).

(2). SCOPE 的CH1 接Vo, 并設為TRIGGER SOURCE, LEVEL 設定在Vo 的90% ~ 100% 較為妥當, TRIGGER SLOPE 設定在"+",VOLTS/DIV 則視輸出電壓情況而定.

(3). TIME/DIV 設定為1S/DIV 或2S/DIV,為滾動狀態(tài).

(4). 在輸入電壓穩(wěn)定時,變化輸出負載(最大/最小).

(5). 在設定電壓下測試輸出電壓的最大和最小值.

五、注意事項:

無

19. 輸入電壓變動測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 的輸入電壓在規(guī)格要求內變動時,是否會對S.M.P.S. 造成損傷或輸出不穩(wěn)定.

二. 使用儀器設備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

三. 測試條件:

依SPEC. 所規(guī)定: 輸入電壓AC LINE 和負載LOAD 值.

四、測試方法:

(1). 將待測輸出負載設在MAX. LOAD 和MIN. LOAD.

(2). TRIGGER SLOPE 設定為"+", TRIGGER MODE 設定為"AUTO", TIME/DIV 視情況而定1S/DIV 或2S/DIV.

(3). 變動輸入電壓,如:90Vac-180Vac;115Vac-230Vac;132Vac-264Vac;0-90Vac…… 0-264Vac.

(4). 測試輸出電壓在輸入電壓變動時的最大值和最小值.

五、注意事項:

輸出電壓變動的范圍應在規(guī)格電壓要求內.

20.電源開關循環(huán)測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 是否能承受連續(xù)開關操作下的沖擊.

二. 使用儀器設備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

(4) POWER ON/OFF TESTER / 電源開關測試儀;

三. 測試條件:

(1). 輸入電壓: 115Vac/230Vac 輸出負載: 滿載.

(2). ON/OFF時間: ON 5秒/ OFF 5秒ON/OFF CYCLE：AT LEAST 5000 CYCLE.

(3). 環(huán)境溫度: 室溫.

四、測試方法:

(1). 連接待測品到電源開/關測試儀及電源. (115Vac和230Vac &滿載, 或依客戶規(guī)格執(zhí)行)

(2). S.M.P.S OFF 5秒及ON 5秒為一周期,總共測試周期: 5000 CYCLES.

(3). 測試過程中每完成1000周期時,記錄產品的輸入功率和輸出電壓.

(4). 待試驗結束后,確定待測品在試驗前后電氣性能是否有差異.

五、注意事項:

測試過程中或測試完成階段, 待測品都需能正常操作且不應有任何性能降低情況發(fā)生.

21.元件溫升測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 在規(guī)格操作環(huán)境, 電壓, 頻率和負載條件時, 元件的溫升狀況.

二. 使用儀器設備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). HYBRID RECORDER / 混合記錄儀(DR130);

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

三. 測試條件:

依SPEC. 規(guī)定: 輸入電壓AC LINE, 頻率FREQUENCY, 輸出負載LOAD 及環(huán)境溫度.

四、測試方法:

(1). 依線路情況先確定溫升較高的元件, 后用溫升線粘貼所確定的元件.

(2). 依規(guī)格設定好測試條件(AC LINE AND OUTPUT LOAD) 再開機, 并記錄輸入功率和輸出電壓.

(3). 用混合記錄儀HYBRID RECORDER 記錄元件的溫升曲線, 待元件溫升完全穩(wěn)定后打印結果,并記錄輸入功率和輸出電壓.

五、注意事項:

(1). 溫升線耦合點應盡量貼著元件測試點, 溫升線走勢應盡量避免影響S.M.P.S 元件的散熱.

(2). 測試的樣品應模擬其實際的或在系統(tǒng)中的擺放狀態(tài).

(3). 針對于無風扇( NO FAN)的產品, 測試時應盡量避免外界風流動對它的影響.

22. 高溫操作測試

一、目的:

測試高溫環(huán)境對S.M.P.S. 操作過程中的結構, 元件及整機電氣的影響, 用以考量S.M.P.S. 結構設計及零件選用的合理性.

二. 使用儀器設備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

(5). HI-POT TESTER / 高壓測試儀

三. 測試條件:

(1). 依SPEC.要求: 輸入條件(RATED VOLTAGE), 輸出負載(FULL LOAD) 和操作溫度OPERATION TEMP (通常為溫度: 40℃);

(2). 試驗時間: 4Hrs.

四、測試方法:

(1). 將待測品置于溫控室內, 依規(guī)格設定好輸入輸出測試條件, 然后開機;

(2). 依規(guī)格設定好溫控室的溫度和濕度,然后啟動溫控室;

(3). 定時記錄待測品輸入功率和輸出電壓,以及待測品是否有異常;

(4). 做完測試后回溫到室溫,再將待測品從溫控室中移出, 在常溫環(huán)境下至少恢復4小時.

五、注意事項:

(1). 產品試驗期間與試驗后,產品性能不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象.

(2). 試驗后產品的介電強度與絕緣電阻測試需符合規(guī)格書要求.

23. 高溫高濕儲存測試

一、目的:

測試高溫高濕儲存環(huán)境對S.M.P.S. 的結構, 元件及整機電氣的影響, 以考量S.M.P.S. 結構設計及零件選用的合理性.

二. 使用儀器設備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

(5). HI-POT TESTER / 高壓測試儀

三. 測試條件:

儲存高溫高濕條件: 通常為溫度70±2℃, 濕度90-95% 試驗時間24Hrs(非操作條件).

四、測試方法:

(1). 試驗前記錄待測品輸入功率, 輸出電壓及HI-POT 狀況;

(2). 將確認后的待測品置入恒溫恒濕機內, 依規(guī)格設定其溫度和濕度,然后啟動溫控室;

(3). 試驗24Hrs, 試驗結束后在空氣中放置至少4Hrs,再確認待測品外觀, 結構及電氣性能是否有異常.

五、注意事項:

(1). 產品試驗期間與試驗后,產品性能不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象.

(2). 試驗后產品的介電強度與絕緣電阻測試需符合規(guī)格書要求.

24. 低溫操作測試

一、目的:

測試低溫環(huán)境對S.M.P.S. 操作過程中的結構, 元件及整機電氣的影響, 用以考量S.M.P.S. 結構設計及零件選用的合理性.

二. 使用儀器設備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

(5). HI-POT TESTER / 高壓測試儀;

三. 測試條件:

(1). 依SPEC.要求: 輸入條件(RATED VOLTAGE), 輸出負載(FULL LOAD) 和操作溫度(OPERATION TEMP.),通常溫度為:(0℃).

(2). 試驗時間: 4Hrs.

四、測試方法:

(1). 將待測品置于溫控室內, 依規(guī)格設定好輸入輸出測試條件, 然后開機.

(2). 依規(guī)格設定好溫控室的溫度,然后啟動溫控室.

(3). 定時記錄待測品輸入功率和輸出電壓,以及待測品是否有異常;

(4). 做完測試后將待測品從溫控室中移出, 在常溫環(huán)境下恢復至少4小時,然后確認其外觀和電氣性能有無異常.

五、注意事項:

(1). 產品試驗期間與試驗后,產品性能不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象.

(2). 試驗后產品的介電強度與絕緣電阻測試需符合規(guī)格書要求.

25-32

25.低溫儲存測試

一、目的:

測試低溫儲存環(huán)境對S.M.P.S. 的結構, 元件及整機電氣的影響, 用以考量S.M.P.S. 結構設計及零件選用的合理性.

二. 使用儀器設備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

(5). HI-POT TESTER / 高壓測試儀;

三. 測試條件:

儲存低溫條件: 通常為溫度-30℃, 試驗時間24Hrs(非操作條件).

四、測試方法:

(1). 試驗前記錄待測品輸入功率, 輸出電壓及HI-POT 狀況.

(2). 將確認后的待測品置入恒溫恒濕機內, 依規(guī)格設定其溫度,然后啟動溫控室.

(3). 試驗24Hrs, 試驗結束后在空氣中放置至少4Hrs, 再將待測品做HI-POT 測試, 記錄測試結果, 之后確認待測品的外觀, 結構及電氣性能是否有異常.

五、注意事項:

(1). 產品試驗期間與試驗后,產品性能不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象.

(2). 試驗后產品的介電強度與絕緣電阻測試需符合規(guī)格書要求.

26. 低溫啟動測試

一、目的:

測試低溫儲存環(huán)境對S.M.P.S. 的整機電氣的影響, 用以考量S.M.P.S. 電氣及零件選用的合理性.

二. 使用儀器設備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

三. 測試條件:

儲存低溫條件: 通常為操作溫度0℃ 條件下降低到-10 ±2℃, 儲存時間至少4Hrs.

四、測試方法:

(1). 試驗前記錄待測品輸入功率, 輸出電壓及HI-POT 狀況.

(2). 將確認后的待測品置入恒溫恒濕機內, 依規(guī)格設定其溫度,然后啟動溫控室.

(3). 試驗溫度儲存至少4Hrs, 然后分別在115Vac/60Hz & 230Vac/50Hz和輸出最大負載條件下開關機各20 次, 確認待測品電氣性能是否正常.

五、注意事項:

(1). 在產品性能測試期間或測試之后,產品性能不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象.

(2). 設定的環(huán)境溫度為操作低溫的溫度再降-10度.

27. 溫度循環(huán)測試

一、目的:

測試針對S.M.P.S. 所有組成零件的加速性測試, 用來顯露出在實際操作中所可能出現(xiàn)的問題.

二. 使用儀器設備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

(5). HI-POT TESTER / 高壓測試儀;

三. 測試條件:

操作溫度條件: 通常為低溫度-40 ℃ 、25℃、33℃和高溫度66 ℃(濕度: 50-90%), 試驗至少24個循環(huán).

四、測試方法:

(1). 試驗前記錄待測品輸入功率, 輸出電壓及HI-POT 狀況.

(2). 將確認后的待測品置入恒溫恒濕機內, 以無包裝,非操作狀態(tài)下.

(3). 設定溫度順序為66±2 ℃保持1小時, 33±2 ℃和濕度90±2%保持1小時, -40±2 ℃保持1小時, 25±2 ℃和濕度50±2%保持30分鐘,為一個循環(huán).

(4). 啟動恒溫恒濕機, 然后記錄其溫度與時間的圖形, 監(jiān)視系統(tǒng)所記錄的過程,

(5). 試驗完成后, 溫度回到室溫再將待測物從恒溫恒濕機中移出, 放置樣品在空氣中4Hr 再確認外觀, 結構及電氣性能是否有異常.

五、注意事項:

(1). 經(jīng)過冷熱沖擊試驗后產品的性能與外觀不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象.

(2). 經(jīng)過冷熱沖擊試驗后產品的介電強度與絕緣電阻應符合規(guī)格書要求.

28. 冷熱沖擊測試

一、目的:

測試高, 低溫度沖擊對S.M.P.S. 的影響,用來揭露各組成元件的弱點.

二. 使用儀器設備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

(5). HI-POT TESTER / 高壓測試儀;

三. 測試條件:

(1). 依SPEC. 要求: 儲存最高(70℃), 低溫度(-30℃), 測試共10 個循環(huán), 高低溫轉換時間為<2min;

(2). 依客戶所提供的試驗條件.

四、測試方法:

(1). 在溫控室內待測品由常溫25 ℃向低溫通常為-30 ℃轉變,并低溫烘烤1Hr.

(2). 溫控室由低溫-30 ℃向高溫通常為70 ℃轉變,轉變時間為2min., 并高溫烘烤1Hr.

(3). 在高溫70 ℃ 和低溫-30 ℃ 之間循環(huán)10 個周期后, 溫度回到常溫將S.M.P.S. 取出(至少恢復4小時).

(4). 確認待測品的標簽、外殼、耐壓和電氣性能有無與測試前的差異.

五、注意事項:

(1). 經(jīng)過冷熱沖擊試驗后產品的性能與外觀不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象.

(2). 經(jīng)過冷熱沖擊試驗后產品的介電強度與絕緣電阻應符合規(guī)格書要求.

(3). 產品為非操作條件.

28. 冷熱沖擊測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 在規(guī)格耐壓和時間條件下, 是否產生電弧ARCING, 其CUT OFF CURRENT 是否滿足SPEC. 要求, 及是否會對S.M.P.S.造成損傷.

二. 使用儀器設備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). HI-POT TESTER / 高壓測試儀;

三. 測試條件:

依SPEC. 要求: 耐壓值(4242Vdc / 3000Vac)、操作時間(1 minute)和CUT OFF CURRENT(3.5mA) 值;

四、測試方法:

(1). 依SPEC. 設定好耐壓WITHSTANDING VOLTAGE, 操作時間TIME, CUT OFF CURRENT 值.

(2). 將待測品與耐壓測試儀依要求連接, 進行耐壓測試, 觀察是否有產生電弧ARCING, 及漏電流CUT OFF CURRENT 是否過大.

(3). 耐壓測試后, 確認待測品輸入功率與輸出電壓是否正常.

五、注意事項:

(1). 測試前應先設定好耐壓測試儀的測試條件, 待測品的輸入與輸出分別應與測試儀接觸良好.

(2). 耐壓的規(guī)格值設定參考安規(guī)要求.

30. 跌落測試

一、目的:

了解S.M.P.S. 由一定高度, 不同面進行跌落DROP, 其結構, 電氣等特性的變化狀況.

二. 使用儀器設備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). HI-POT TESTER / 高壓測試儀;

三. 測試條件:

依SPEC. 要求: 規(guī)定的跌落高度、跌落次數(shù)和剛硬的水平面.

四、測試方法:

(1). 所有待測品需先經(jīng)過電氣上的測試及目視檢查，以保證測試前沒任何可見的損壞存在.

(2). 確定六個面(小-大)順序依次進行跌落.

(3). 使待測品由規(guī)定的高度及項(2) 所確定的測試點各進行一次跌落, 每跌落一次均須對其電氣及絕緣等進行確認,記錄正常或異常結果.

31.絕緣阻抗測試

一、目的:

測量待測物帶電部件與輸出電路之間和帶電部件與膠殼之間的絕緣阻抗值.

二. 使用儀器設備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). HI-POT TESTER / 高壓測試儀;

三. 測試條件:

(1). 依SPEC. 要求: 施加500V直流電壓后進行測試的絕緣阻抗值要高10MOhm(常規(guī)定義).

四、測試方法:

(1). 確認好電氣性能后, 在絕緣阻抗測試儀中設定好施加的電壓(500Vdc)和測試的時間(1 Minute).

(2). 將待測物輸入端和輸出端分別短路連接, 然后分別連接測試儀對應端進行測試.

(3). 再將待測物輸入端和外殼之間分別與測試儀對應端連接進行測試.

(4). 確認待測物的測試絕緣阻抗值是否高于SPEC.要求值10MOhm.

五、注意事項:

(1). 阻抗要求值依安規(guī)標準要求定義.

32. 額定電壓輸出電流測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 在AC LINE 及OUTPUT VOLT. 一定時, 其輸出電流值.

二. 使用儀器設備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

三. 測試條件:

四、測試方法:

(1). 固定輸入電壓與頻率,依條件設定CV 模式下的輸出電壓.

(2). 開機后待輸出穩(wěn)定時記錄輸出電流值.

(3). 切換輸入電壓與頻率,記錄不同輸入電壓時的輸出電流值.

(4). 在輸出電壓值不同條件下分別記錄輸出電流值.

五、注意事項:

記錄輸出電流值前待測品電流值需穩(wěn)定.